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根據經濟部統計,2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣,加上新製程及 IC 技術不斷推進,半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上,伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗,產線滿載的情形下,「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求,這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
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若將產品的測試流程放大來看, R&D進行 EVT、DVT,進而再交由產線進行PVT,若 R&D 和產線使用的測試設備不同,除了增加實質的測試成本,也增加了雙方溝通的時間成本;一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備,將可縮減一半的資金成本,且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。) }- U: u0 C5 [8 k& `* k7 y" a
! J' g. W* i$ H8 d* `& G6 j為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間,美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統,讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統,以大幅減少測試成本,並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度,同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。5 ?# ]+ f" | H5 Y( y o! d0 O! c0 l* P
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此次研討會,將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦,歡迎各界相關專業人士一同與會,和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。
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7 t9 o3 d" A3 Y/ j1 d活動相關報名方法如下,歡迎大家踴躍報名!
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7 | s4 Y% t8 {, l【活動報名方法】9 @" V- v3 e4 n: A3 Z, B* ~
活動地點:新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)
( O' C& d2 x2 P/ J* n' x# [活動日期:2012.4.10 (二) 09:00 ~ 16:50
% h6 l( F$ i+ T電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
6 Q5 c% ]; D' L* G3 ^$ c$ ~網路報名:http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp |
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