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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 ! _& f" W- ]; {3 Z: i2 c- x2 F
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
! |1 Q7 F" L) T6 E; w( F2 @0 ^●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) ) D% {, ?5 Y- \6 h0 k( |
●課程費用:5,000(含稅) # T% S; y4 Q/ c
●報名截止日期:100/12/01(四) ) }" {8 S" }# T' a" C
●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
1 k0 q- Z; V- {●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
& q1 I! C* `3 D" ^1 M' V. P8 ]●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
4 c0 k2 R/ E# @! p
, Y: c. Q$ p- A) [■課程目標
$ f+ C$ f! {( f: }& A+ m
5 n$ [% n0 N" C6 x: A0 `+ S5 R& m本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。$ Q2 m3 Q  f  S3 F3 b1 V* j
7 o7 W1 M- ^& O
■課程大綱$ d. W" C7 P: y6 Y+ ]
第一天:12/08(四)9:00~16:00
; B6 F7 _, Y3 u; E2 H' I專利檢索入門與檢索規畫 " j8 t! _2 c" O
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) 1 g! T( g/ y6 h. n% ?! q: W
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 2 k0 q! l1 c, y- m: G7 N6 f

, c" `2 Q5 D( D9 g1 m7 _第二天:12/09(五) 9:00~16:00
! P& q" h2 W+ y; d- }專利分析可提供之情報 " ]  r; \5 r# U0 C6 f& |
專利地圖試做範例
8 ~. A7 N) M6 v- \( a進階專利地圖解讀、分析與策略擬定2 x$ p8 u" X& |0 u6 @6 L2 ^
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹! r; S) C5 E$ L" g8 m9 }0 A/ a- z
吳俊逸 博士+ p! f9 y  Y5 h4 V0 g4 O0 l0 r
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 0 o8 [6 j7 n; ^' O9 l) i  U, k
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
- x9 k6 R9 u# U0 c& a, @' A: b學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士
& v! w- \5 X$ i( y3 m  j國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
# x9 M, g  V$ u/ F& @+ J0 n
9 N" }5 |7 v; h& ^, _' ?8 X- i2 g專長與經驗:
* W( L1 r7 v" e# e3 k 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March). 6 ^* _! x: R8 G# z
 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
) B( M3 k. I+ K, e; t' z" R8 j# [ 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
1 o$ b: I4 C7 N: a) T" {: F/ c 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). - d3 ^; g9 C3 V) H# ~7 j
. U5 @- R4 K  }! m
經歷:
: D1 @& {  q0 O' L' u
+ U1 Z, ^1 Z3 w0 c工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人
6 i  f! _4 y+ Q" p) A0 E亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
  u+ E6 |( `5 ?% i- C, w2 k" y9 A+ X國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
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發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
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1 q4 T8 f! y9 j$ I5 C為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。& N4 C8 U. |4 C- E' K
' X  \  _( G9 S; M' ^2 X8 L
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
7 g* u! e  N) |% y8 a
. z4 ?( ~9 d! e訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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