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[問題求助] 天線效應

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1#
發表於 2011-7-6 14:53:37 | 顯示全部樓層
會有啊,天線效應是指芯片在製作的過程中,導線上積累了大量無處釋放的電荷,積累到一定程度會將gate擊穿,然後泄放,這樣mos會被損壞。所以天線效應的發生出現在芯片中任何連在gate的線上。不知道我說沒說明白,希望能對你有幫助。
2#
發表於 2011-7-7 15:45:54 | 顯示全部樓層
回復 4# bernie820
+ W1 e/ e! w% g3 v3 ?) `  Q# R( r7 }3 ]3 l) h
哦,呵呵,不好意思
3#
發表於 2011-7-7 15:55:41 | 顯示全部樓層
回復  terriours
; o$ G& k1 h, M1 l
2 a3 `3 N  J; f$ b+ d之到原理後~~不知道有沒有任何有效的解法可以防止呢!!  謝謝 ...
; f( \0 j( g( K$ S. `( Ssydjeffrey21345 發表於 2011-7-7 13:24
% H, ?7 w, P( b; m7 k& M1 m/ ]( `
# Y% I" z9 u4 _0 y0 f6 X% O
解决天线效应有两个方法:
# Y: Y! r+ b4 j% b. ^5 y方法一:在发生antenna effect的gate连线上进行“跳线”,所谓“跳线”就是将底层metal线换成高层的metal线。这样做的原理简单是:在process的過程中,每一個連接工藝步驟后都會進行一次靜電荷的 釋放,所以在metal上的靜電荷會被放掉,就杜絕了antenna effect的發生;0 V* G) A: e! g
方法二:也可以在連線上加一個對地反向偏執的diode,這樣在工藝製作過程中,就可以自動放電,並不是網上通常說的把這個反向diode擊穿放電,有時候這個反向diode的大小也是要考慮的。+ f. K1 D5 p- x5 q! M
基本上就是這樣的,希望能幫到你。* r6 `' s# M; q7 W6 O
如上所述有錯誤,希望一起討論。
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