7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會

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時間：新竹場次: 2011 年7月12日(週二)　台北場次: 2011 年7月14日(週四)
地點：新竹場次: 科技生活館 201會議室  台北場次: 集思台大會議中心 蘇格拉底廳
主辦單位：安立知股份有限公司、台灣區電機電子工業同業公會
參加費用：免費
! p" s4 f* o! {, {2 g4 N6 _. c$ t本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。
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7 Y9 q" K" k) k簡介：
長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。
" ~! i. M  J# \LTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
9 ?' ^4 Q5 I+ C; e- \4 p6 B報名方式：線上報名：http://tinyurl.com/4xy6kal

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時　間   c' k7 d  N1 o2 n, x. A	主　題	講　師 * C2 J) I# h/ j& K
13:10~13:20 & g: k) ^( J; K% T6 v2 D6 w	報到 ; C/ w2 {- ?; s! _" r  M	. A$ e0 l: c# j& i: J1 { 5 \# {  w2 k/ _. P( k& B6 I2 i) D/ O
13:20~13:30 ) p& Y" S7 t! ^" z# d) i' ?	開場 : F5 I' O- Z/ V2 _4 L	q5 H0 g8 H0 `: V& Z/ O6 e ! C' d! h' p( ]
13:30~14:00	LTE Requirements for GCF and PTCRB ! U9 \- G4 L4 M' e7 @台灣檢驗科技股份有限公司 5 g/ t! S& Y5 G* ]3 G2 t0 F# M1 F電子通訊實驗室行動通訊部門經理 % M) o7 _% u7 k郭金興 Ben Kuo
14:00~14:30 & F% \$ X. b6 ]3 ]* Z9 \7 I6 n' {	LTE FDD/TDD訊令測試解決方案	台灣安立知 - ~' u" }1 b& m" j$ Y' V應用工程師 薛伊良 Petrushka Hsueh
14:30~15:00	All in One 人性化的手機應用測試解決方案
15:00~15:30	Coffee Break	0 s9 e8 G+ P$ |: S5 ~
15:30~16:10	LTE連網展示- MD8475A # v5 ]6 L7 R( z2 i5 F' J/ @	薛伊良 Petrushka Hsueh
16:10~16:40 ; V: T4 A' {6 ?% D	LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試	台灣安立知 * n6 C0 u8 p) C) x( X& b# ^技術副理 9 b( A4 U. Q, e  Y6 S吳錫坤 Howard Wu
16:40~17:00	LTE Calibration overview / T1 @) H' m9 e) O6 C8 U, y- }( |8 X	台灣安立知 軟體工程師 王孝群 Enzo Wang 4 g  X5 M7 X6 w3 e
17:00~	Q&A及抽獎活動	" |- k1 R! A+ N, ]# V) J9 } # h! e  P' I1 v3 |2 L

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。
- F/ J% {' H7 n% F3 f* b2 f*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。