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[問題求助] ESD失效分析求助

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1#
發表於 2010-11-20 14:59:18 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
2颗VDD到地测试
! f4 q; }! A8 e1),第1颗从500V开始测试,大部分在500V时就失效
" Y8 S5 H  p+ m3 A2),第2颗从1000V开始测试,大部分在1500V时失效+ A: d& T* A0 R' _3 T* o
电源到地的结构为分布式的GGNMOS结构) u* c& ^9 S1 R9 ]7 y; V! O; [* c: @
失效机理是怎么会事,多谢
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2#
發表於 2011-1-18 14:32:02 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:
/ l' N# N6 j* {5 m6 r% [% {1. 請問製程為何?8 \3 b1 m; F  l/ y
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V開始打, 為何?1 L$ H/ v5 J/ W3 ]2 B9 }; s* }# g9 \
3. 你的GGNMOS的W=?, L=?, M=?, DCG=?- z0 [- U! V9 d8 V, N
要有上述的數據才能做最基本的分析.
3#
 樓主| 發表於 2011-3-27 11:34:00 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:9 X9 x4 c7 Q  G- |# ]0 g: `/ L
1. 請問製程為何?' h5 M. a6 n' u( @; n
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...: @! I& a0 A. t  x" v
klim 發表於 2011-1-18 14:32
. c7 H: O6 n, k3 f3 T

% E  H/ k1 ?! k) P) F7 y1), 請問製程為何?
3 F& p1 S, ~0 e1 I( z, _8 @ tsmc 0.18um
6 v5 k' K! ]9 O7 m2 @0 i7 O/ U
5 R, v8 B5 S8 {2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V .../ o+ h" T6 P; E& I
两个芯片均测试HBM模式,故意一个从500V开始打,一个从1000V开始打, q: R$ s& `1 R" y: E' \4 ~
5 f& F4 e6 z' s1 Z, F: m: U( w; u
3.ESD 的layout遵循了TSMC的<<esd design rule>>,只是没有固定的电源引脚,而是,通过配制IO口的属性来设置电源引脚的位置
4#
發表於 2012-2-12 13:41:58 | 只看該作者
感兴趣问题的进展,是样品概率问题吗?
5#
 樓主| 發表於 2012-3-13 20:20:27 | 只看該作者
感谢关注,ESD问题已经解决
6#
發表於 2012-7-12 12:21:25 | 只看該作者
how to resolved it????
7#
 樓主| 發表於 2012-8-21 21:40:30 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路
8#
發表於 2013-10-13 02:30:06 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路 ??, F  d) r; Y2 S- N5 {
均勻是指什麼
! B# _0 U$ m0 N- Y2 D1 O方便貼圖上來嗎
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