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(20100128 15:00:34)日本橫濱--(美國商業資訊)--日本半導體技術學術研究中心(簡稱STARC)與Atrenta Inc.今天宣佈,雙方合作開發一種電子設計自動化 (EDA) 工具品質管制體系。該系統基於STARC提供的品質評價資料庫,並且拓展了對Atrenta的SpyGlass暫存器傳輸級 (RTL) 平台正在進行的品質監測。' R y" W9 P9 v" _
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作為此次合作的一部分,STARC為Atrenta提供了迴歸測試規格和大量的設計測試案例。Atrenta隨後將這些測試整合進他們的SpyGlass平台迴歸測試套件,從而可實現對各版本SpyGlass平台的品質和生產備即性的詳細測試。Atrenta會為STARC提供一份品質評估報告,其中包括迴歸測試結果、發現的漏洞類型,以及在目標版本之前建置的解決方案。
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$ J5 Q4 z+ V# |' R7 W( T! y" Y0 ?STARC副總裁兼總經理Nobuyuki Nishiguchi表示:「在過去一年半的時間裡,我們一直與Atrenta合作實施這項計畫。SpyGlass系列的產品品質使得我們能夠取得顯著進步。透過此次合作,STARC能夠更輕鬆地為我們的企業客戶提供領先的前端設計方法。我們的企業客戶如今能夠非常有效地部署新版SpyGlass。」
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Atrenta行銷部副總裁Mike Gianfagna表示:「品質資料庫是實施改良品質程序的一種有效方法,因為它獲得了STARC所有客戶的授權,並且基於現實設計問題而開發。透過客戶測試案例存取計畫(CTAP),我們不斷改進我們的軟體迴歸套件,而此次與STARC的合作是一次重要的補充。透過此次合作,我們可以加快向推進Early Design Closure的STARC客戶推出優質產品。」 |
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