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高速數位驗證的各種挑戰?到底哪種工作挑戰最大吶?

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1#
發表於 2011-3-29 09:07:28 | 顯示全部樓層
Tektronix Communications 推出「從封包到人員」式解決方案,在行動寬頻服務品質驗證的領域中引領翹楚1 d* M1 k1 r: l8 N7 c9 R( k
全球超過十幾家的一流業者採用了 Tektronix Communications 的 Iris 套裝解決方案,以有利的方式確保行動寬頻的經驗品質- V/ e( m# T3 I, w
5 I. f( l" E' {" i' Z  E
【2011 年 3 月 28 日 台 北 訊】–全球網路智能與通訊測試解決方案的領導廠商 Tektronix Communications宣布,隨著全球各地的行動業者,配合不斷增加的用戶需求,持續地發展其網路,Tektronix Communications 也努力地從「封包到人員」的角度,提供對業者複雜網路的深入解析,確保行動寬頻的服務驗證品質與獲利能力。領先市場的 Iris 套裝解決方案自 2009 年推出以來,Tektronix Communications 擴充了其產品組合,更進一步地納入行動寬頻技術與網路智能應用,全球有超過十幾家的行動服務供應商,已部署了這項解決方案。 0 {8 {6 C% l- C( w6 F8 r) }: i
* [, p# K# s: K6 y6 J. T& u. U6 w* c
隨著新型智慧手機如雨後春筍般地出現,全球各地使用的行動資料也呈爆炸性成長,但真正的模式轉變,其實與大量新型裝置 (例如平板個人電腦和連接行動 USB 傳輸器的筆記型電腦) 的推出有關。行動寬頻的版圖也正在改變,進而改變了數百萬行動使用者的使用模式與期望。隨著可用頻寬的增加,裝置存取行動網路的數目與種類也隨之增加,而使用這些頻寬的大量服務,其數目也呈爆炸性地成長。為了持續確保獲利能力,同時維持用戶的經驗品質 (QoE),行動服務供應商必須讓擴充網路容量的投資成本,和使用者對服務品質 (QoS) 不斷提高的要求,能夠找到平衡點。
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2#
發表於 2011-3-29 09:07:54 | 顯示全部樓層
Tektronix Communications 網路管理副總裁暨總經理 Mark Driedger 表示:「雖然有服務導向的解決方案,可以判定使用者的經驗品質 (QoE),還有網路導向的解決方案,能夠確認所提供服務的服務品質 (QoS),但 Tektronix Communications Iris 套裝解決方案的「封包到人員」方法,可針對提供給服務供應商公司內多重部門的情報,進行具廣度與深度的解析。Iris 套裝解決方案不僅可針對服務,也可針對使用這些服務的用戶、承載這些服務的網路,到攜帶這些服務內容的封包 (從服務起點到提供點),提供完整的能見度,產生出色的用戶情報。」
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8 E0 u" B; G6 M8 D最近的 Analysys Mason 固網寬頻報告指出,低劣的服務品質,是造成固網寬頻網路用戶低滿意度與高流動率的主要原因。行動寬頻也是一樣。使用者要求的不再只是穩定的連線,現在也擁有各式各樣的裝置,用來享受即時而敏感的高頻寬服務,例如影片和遊戲。而隨著這些需高度頻寬服務的使用量增加,使用者的期望也提高了。
  }, ^% l4 G  ^) I* O. o! a這種應用範圍與行動用戶期望的改變,為服務供應商營運部門所採用的傳統監控方法,帶來了直接的挑戰。網路效能的監控,先前是使用關鍵效能指標,涵蓋層面包括存取可及性、保持力與重傳率等;雖然這些指標仍是需要監控的重要參數,但卻無法用來回答現在的一項基本問題 – 使用者所經歷的服務品質。
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3#
發表於 2011-3-29 09:09:06 | 顯示全部樓層
關於 Tektronix Communications 的行動寬頻解決方案
- Y: z% E& }2 B$ J3 a, ?6 m
8 B) _* E! m$ Z  Q4 r' hIris 套裝產品可為服務供應商內的多個組織,提供即時與歷史資訊,滿足所有服務疑難排除與效能監控需求。Iris 系列產品包括:( r$ y- j4 k- I) P1 o

# o' {  d& S7 I0 n4 e1 N* ~* A+ T●GeoProbe G10 – 採用領先業界的 GeoProbe,這款新的高速、高密度 10GE 探棒,具備最佳化的分散式架構,以處理高頻寬的 IP 流量。 : V: y* A8 H3 M# U' S
●Iris 分析儀工具組 – 包含 Iris 協定分析儀 (IPA)、Iris 連線分析儀 (ISA) 與 Iris 流量分析儀 (ITA),可根據連結、應用和伺服器,對 IP 流量進行特性分析,提供 L2 到 L7 的疑難排解功能。
1 g  n8 x- O+ k: Q
7 S$ \8 D% ~# J4 U3 K●IrisView – 使用簡易、可設定的軟體架構,能為所有應用提供單一的整合式平台,包括對客戶經驗管理 (CEM) 系統與協力廠商 OSS、BSS 應用的饋送。/ t7 h& Y% c, G$ ]6 \) F
●Iris 效能智能 – 提供無可比擬的端對端分析與報表功能,結合高度彈性的強大 KPI/KQI 模型製作引擎,可讓業者更順暢地連結網路層級的事件,達成預期的業務成果。, e& e, Q0 q# M+ k. }( y

( K6 t1 P3 A9 h; m1 I: v●Iris 套裝解決方案搭配 Arantech 的 touchpoint™ – Iris 是今日行動業者所採用的最先進客戶經驗管理解決方案,搭配 Arantech 的 touchpoint 使用,可消除網路與服務效能智能間的落差,以獨特的廣度與深度, 提供可據以行動的資訊。以單一完全整合的「封包到人員」解決方案,透過完整的服務供應鏈 (可包含多種技術與實體介面),確保服務效能與經驗。
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4#
發表於 2012-6-28 13:37:10 | 顯示全部樓層
Tektronix全自動Thunderbolt發射器相容性測試隆重登場
0 v+ {- h8 l% G6 _業界唯一Thunderbolt同時雙通道測試解決方案,除提供最快速的回應外,還支援接收器測試
/ m4 B, n. L7 x! Z- N. {
$ n8 E( B# B0 Y+ [: T【2012 年 6 月 28 日 台 北 訊】–全球示波器領導廠商Tektronix 宣佈,推出Thunderbolt技術的全自動發射器 (TX) 相容性測試解決方案,提供業界最快的測試執行及回應速度。Tektronix還宣布推出可加速Thunderbolt接收器 (Rx) 測試工作的設定。
- o8 P! }( e: M' Z; S1 H: F* g5 y& S& |  h2 s- \
Thunderbolt是一項轉型的I/O技術,是目前I/O技術在效能和靈活性方面的大躍進。它提供一個單一纜線上的兩個10Gbps雙向通道,以簡化終端使用者對PCI Express和DisplayPort協定支援的使用經驗。對面臨Thunderbolt-enabled功能設計,和向消費者提供產品有時間壓力的工程師來說,Tektronix提供他們所需要的測試工具,讓他們在深入分析設計問題的同時,減少測試的設定和運行時間。
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Tektronix DSA70000系列示波器的最新自動Thunderbolt發射器測試解決方案,是業界率先為待測裝置 (DUT) 提供的狀態控制功能,能支援雙通道測試。相較於一次只支援單通道的其他產品,Tektronix解決方案大幅縮短測試時間,並提升了工程生產力。在接收端,Tektronix提供12.5 Gbps BSA系列BERTscope更詳細的設定,以進行更快和更多接收端的一致性測試。
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5#
發表於 2012-6-28 13:37:27 | 顯示全部樓層
另一個Tektronix Thunderbolt 測試解決方案的優勢 (尤其是指實體層的除錯挑戰) 是,支援有界不相關抖動 (BUJ) 的抖動分離。這種形式的抖動,通常發生在相鄰高速通道的串音 (如Thunderbolt中所使用的串音)。其他的抖動分解模型將BUJ錯置在隨機抖動中,使設計人員難以隔離串音的問題。
3 r- u* m* q# x- {! s: M  P% E8 P! s7 Z8 ^/ b7 F
Tektronix Thunderbolt解決方案,能進一步充分支援顯示技術的標準,包括DisplayPort和雙模式DisplayPort。這允許設計人員使用相同的測試工具,確保跨多個顯示標準的互通性。 : I' [3 s1 f4 H. u" g& L
0 O+ B6 j0 t) O4 ^: r8 e+ q; j
Tektronix效能示波器總經理Brian Reich表示:「Thunderbolt整合了現有I/O技術的速度和相容性,這是10年左右才會出現一次的突破性技術類型。自Thunderbolt成立以來我們一直與英特爾密切合作,以開發同級最佳工具的廣泛產品組合,協助客戶有效地將Thunderbolt產品推向市場。」
  p6 i5 {+ Q7 l/ c( C4 o* n3 z1 e# H' w- y
供貨狀況0 v4 v! r/ n8 q+ K
Tektronix自動發射器測試解決方案和接收器測試設定的Thunderbolt產品現已全球上市。
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6#
發表於 2013-1-30 11:22:16 | 顯示全部樓層
Tektronix推出適用於100 G網路設計和測試的全新32 Gb/s多通道誤碼率分析儀
/ t$ s/ }6 d: v2 \( S" L0 L+ l6 q擴大市場領先的BERT產品組合,以其100 G LR4/ER4標準支援多通道測試所需的相干性光調變格式: Q% Z1 H$ C" d  N
, h1 }% Z# c7 j/ a& V
【2013 年 1 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,一系列新的高速碼型產生器和誤碼檢測器,可支援高達32 Gb/s的光通訊和串列資料通訊測試。PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器具有多通道碼型產生與使用者自定碼型編程功能,適用於類似100 G乙太網路這類的特定標準,多達4通道進行特殊的訊號品質範圍測試(Margin Test)。 6 d% A1 v6 d4 }# Y2 n; n+ W

) l: ?# _% }5 Z9 @市場比以往更投入高速光通訊和資料通訊的開發,以因應像智慧型手機、平板電腦和視訊應用等需大量頻寬測試的不斷快速需求。資料通訊研究人員和設計人員也同樣需要高速測試設備,分析和測試光學和串列介面的特性,通常他們採用每通道10到32 Gb/s資料速率的多通道儀器。  
+ |% t; F2 P+ z/ F
  ^' G9 M: G- Z) m$ v# J對測試相干性光調變格式 (如DP-QPSK),PPG3000系列可以其4相位對齊的通道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性訊號分析儀使用,使光學設計人員即時優化和驗證相干性調變格式。 4 u' C7 f3 [4 G4 Y- z% J

8 T, M- T. ]$ Q/ l4 E對誤碼率測試,PED3000系列可結合PPG3000功能,提供高達32 GB/s誤碼率分析與多通道支援,以便快速識别常見的多通道資料通訊架構的串音問題。例如,IEEE802.3ba標準測試,設計人員可以模擬4×28 G測試平台,為他們的接收器設計進行壓力測試。32 Gb/s的資料率輸出與抖動調整插入能力,使設計公司擁有業界最好的邊際功能、更高的產量和最佳的終端產品或晶片效能,順利將其產品推向市場。/ m) q; B4 L+ }- X" s7 @2 D2 z

; I% q& G$ i+ O, e# }2 ?7 E) @7 n$ TTektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示:「在BERT產品組合內加入PPG3000和PED3000系列,使我們能夠為客戶提供100 G標準測試的選擇。深入分析需要準確的訊號完整性,我們將持續提供我們屢獲獎項的BERTScope系列。新的PPG3000和PED3000的加入,能夠進行需要多通道資料對齊高達32 Gb/s碼型產生的BERT測試。
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7#
發表於 2013-1-30 11:22:24 | 顯示全部樓層
多通道碼型產生
* x" c9 B" w9 J: h  C, yPPG3000系列共6種型號,包括30 Gb/s或32 Gb/s速度的一個、兩個或四個通道的機型。這些儀器擁有如同步和相位調整輸出和PRBS,或使用者定義的碼型產生功能,能靈活提供廣泛設計問題 (包括串音) 的疑難排解。隨著資料速率的增加,如100 G乙太網路這類多通道配置也變得司空見慣,串音儼然已成為主要的設計挑戰。. o) h# i, J' I' |9 Q* k

( P  B$ b3 R& X/ f4 ^$ @多通道BER測試
5 u) k. i$ a" B* a4 U3 {( JPED3000系列使用一個或兩個通道的誤碼檢測器,能進行如100 G乙太網路這般多通道標準的全面性測試。該儀器結合優異的靈敏度 (30 Gb/s時可量測到<20 mV的訊號) 與業界最廣泛的資料速率 (範圍從32 Mb/s至32 Gb/s)。誤碼檢查功能包括PRBS或使用者定義碼型、DC耦合差動資料輸入、單端時脈輸入,以及自動校準輸入碼型。
' `! k4 m6 r+ v) E& M, O
8 K/ {1 X. K; Y7 C: D5 K靈活性,可用性5 c. }# ?' u3 O7 d  D2 A* L* Z1 _
PPG3000和PED3000系列可單獨或搭配其他Tektronix儀器,作為完全整合的系統使用,為設計人員提供廣泛的資料傳輸速率、碼型、壓力和輸出位準,以解決一系列的標準問題。使用者可使用易於操作的觸控式螢幕圖形使用者介面,立即快速配置測試解決方案,此簡單的操作可縮短訓練時間並提高測試效率。
( j; R/ Q7 X- J3 I1 z, a; A$ J
, v. p: \1 G# g5 E% [7 L供貨情形
- R6 E# u3 }4 a, P5 \- L5 k6 ^PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器已於2012年12月推出。
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8#
發表於 2013-5-15 13:20:27 | 顯示全部樓層
Tektronix 在 Design Automation Conference 2013展示 ASIC 原型設計除錯解決方案
+ [/ d2 t/ T$ b+ n4 r$ _$ w與會者將體驗到 RTL 模擬級可視性讓多個 FPGA 原型設計無需重新編譯,更快、更有效地進行除錯
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【2013 年 5 月 15 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,將在 6 月2 至 6 日於美國德州奧斯汀所舉辦的 2013 Design Automation Conference (DAC) 會議中,展示近日推出的 Certus 2.0 ASIC 原型設計除錯解決方案,攤位編號為 819。DAC 是電子系統的設計與自動化 (EDA)、嵌入式系統與軟體 (ESS) 和智慧財產 (IP) 等領域首屈一指的盛會。% B& `% E% f# I& w
6 Y: x  K$ p% ]$ f# k6 Z4 A& h1 z
首次在 DAC 展示的 Certus 2.0 軟體套件和RTL 架構嵌入式儀器,啟用了完整的 RTL 級可視性,並讓原型設計平台具備 FPGA 內部可視性功能,對 ASIC 原型設計流程產生了重大的改變。此模擬級可視性能讓工程師能在一天內診斷出多項瑕疵;相較於使用現有的工具,可能要花上一個星期或更長的時間才能達成。: q* e# D! y- A
  F( ^* h5 A. k2 o
Tektronix 嵌入式儀器事業群總經理Dave Farrell表示:「FPGA 生態系統中沒有 ASIC 原型設計的主動除錯功能。DAC 與會者將會親眼看到 Certus 2.0 如何顛覆 ASIC 原型設計流程,並大幅提升除錯產能」。
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9#
發表於 2013-5-15 13:20:43 | 顯示全部樓層
主動除錯策略
2 V* }. R0 b0 o9 N, m: ^1 }7 C
" X1 H: M1 d7 z. h4 DCertus 2.0 讓設計人員針對多個受FPGA LUT 些微影響的FPGA ASIC 原型設計中各個FPGA,自動檢測其中可能需要的所有訊號。這使主動除錯和檢測策略無需重新編譯 FPGA,即可針對每一個新行為進行除錯;相較於使用傳統工具,通常要耗費 8 到 18 個小時的冗長痛苦過程。下列為其他的主要功能:
* h9 x4 K- h/ m
9 @8 M" U% e/ P, D* o% W•        按類型和實體名稱自動識別和檢測 RTL 訊號,包括正反器 (flip-flops)、狀態機器、介面和列舉類型* V3 b* n* P9 f# L! Q' b1 h; E: L% q
•        無需特殊的外部硬體或消耗 FPGA I/O 資源,即可在晶片上以高速擷取並壓縮許多資料
1 _" f. S' [5 X: s- q•        進階的晶片觸發功能,將邏輯分析儀的觸發方法引進嵌入式儀器
+ L8 t: ]0 V- H$ G4 p•        跨時脈域和多個 FPGA 的時間關聯擷取結果,提供整個目標設計的全系統視圖
2 V  o* l1 L& ^
0 z0 G4 G4 W% _9 U& @0 v! wCertus 2.0 可以在不需要任何特殊的接頭、纜線或外部硬體的情況下,在任何現有的商業或客製 ASIC 原型設計平台上運作。
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