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高速數位驗證的各種挑戰?到底哪種工作挑戰最大吶?

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1#
發表於 2011-3-29 09:07:28 | 顯示全部樓層
Tektronix Communications 推出「從封包到人員」式解決方案,在行動寬頻服務品質驗證的領域中引領翹楚
& B* x8 i6 Q7 _3 H* X全球超過十幾家的一流業者採用了 Tektronix Communications 的 Iris 套裝解決方案,以有利的方式確保行動寬頻的經驗品質/ ~* ]; M7 l+ z7 U

# ^% @# T2 G0 x【2011 年 3 月 28 日 台 北 訊】–全球網路智能與通訊測試解決方案的領導廠商 Tektronix Communications宣布,隨著全球各地的行動業者,配合不斷增加的用戶需求,持續地發展其網路,Tektronix Communications 也努力地從「封包到人員」的角度,提供對業者複雜網路的深入解析,確保行動寬頻的服務驗證品質與獲利能力。領先市場的 Iris 套裝解決方案自 2009 年推出以來,Tektronix Communications 擴充了其產品組合,更進一步地納入行動寬頻技術與網路智能應用,全球有超過十幾家的行動服務供應商,已部署了這項解決方案。 : w6 k; Z  {' v5 g- q. I) G

+ N" u1 `; n; _3 q" c9 w隨著新型智慧手機如雨後春筍般地出現,全球各地使用的行動資料也呈爆炸性成長,但真正的模式轉變,其實與大量新型裝置 (例如平板個人電腦和連接行動 USB 傳輸器的筆記型電腦) 的推出有關。行動寬頻的版圖也正在改變,進而改變了數百萬行動使用者的使用模式與期望。隨著可用頻寬的增加,裝置存取行動網路的數目與種類也隨之增加,而使用這些頻寬的大量服務,其數目也呈爆炸性地成長。為了持續確保獲利能力,同時維持用戶的經驗品質 (QoE),行動服務供應商必須讓擴充網路容量的投資成本,和使用者對服務品質 (QoS) 不斷提高的要求,能夠找到平衡點。
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2#
發表於 2011-3-29 09:07:54 | 顯示全部樓層
Tektronix Communications 網路管理副總裁暨總經理 Mark Driedger 表示:「雖然有服務導向的解決方案,可以判定使用者的經驗品質 (QoE),還有網路導向的解決方案,能夠確認所提供服務的服務品質 (QoS),但 Tektronix Communications Iris 套裝解決方案的「封包到人員」方法,可針對提供給服務供應商公司內多重部門的情報,進行具廣度與深度的解析。Iris 套裝解決方案不僅可針對服務,也可針對使用這些服務的用戶、承載這些服務的網路,到攜帶這些服務內容的封包 (從服務起點到提供點),提供完整的能見度,產生出色的用戶情報。」 " {1 x; j, l" z" i0 t; f
0 v$ f  B& _/ \, b; J
最近的 Analysys Mason 固網寬頻報告指出,低劣的服務品質,是造成固網寬頻網路用戶低滿意度與高流動率的主要原因。行動寬頻也是一樣。使用者要求的不再只是穩定的連線,現在也擁有各式各樣的裝置,用來享受即時而敏感的高頻寬服務,例如影片和遊戲。而隨著這些需高度頻寬服務的使用量增加,使用者的期望也提高了。
" Q1 o" ?0 M/ h這種應用範圍與行動用戶期望的改變,為服務供應商營運部門所採用的傳統監控方法,帶來了直接的挑戰。網路效能的監控,先前是使用關鍵效能指標,涵蓋層面包括存取可及性、保持力與重傳率等;雖然這些指標仍是需要監控的重要參數,但卻無法用來回答現在的一項基本問題 – 使用者所經歷的服務品質。
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3#
發表於 2011-3-29 09:09:06 | 顯示全部樓層
關於 Tektronix Communications 的行動寬頻解決方案5 F0 [8 _2 p. I( A% I  U2 [% r

/ N7 \. M2 r4 W3 R; E" g  \, cIris 套裝產品可為服務供應商內的多個組織,提供即時與歷史資訊,滿足所有服務疑難排除與效能監控需求。Iris 系列產品包括:( C& ?2 A1 C4 `2 V! c, l& E

( k5 e# }! n" y* m  |, y: W●GeoProbe G10 – 採用領先業界的 GeoProbe,這款新的高速、高密度 10GE 探棒,具備最佳化的分散式架構,以處理高頻寬的 IP 流量。
* y" Q1 U( x( O, o●Iris 分析儀工具組 – 包含 Iris 協定分析儀 (IPA)、Iris 連線分析儀 (ISA) 與 Iris 流量分析儀 (ITA),可根據連結、應用和伺服器,對 IP 流量進行特性分析,提供 L2 到 L7 的疑難排解功能。) k* Z8 t: V8 ?) B$ L( g
+ F& V# j% V$ Q& f7 l# i
●IrisView – 使用簡易、可設定的軟體架構,能為所有應用提供單一的整合式平台,包括對客戶經驗管理 (CEM) 系統與協力廠商 OSS、BSS 應用的饋送。5 J9 B! g8 R) M' A& _  ?/ C0 s
●Iris 效能智能 – 提供無可比擬的端對端分析與報表功能,結合高度彈性的強大 KPI/KQI 模型製作引擎,可讓業者更順暢地連結網路層級的事件,達成預期的業務成果。
4 q5 X* E7 Q* M! V# I- j, T8 ]/ `: c$ @  B1 r0 V) h, b
●Iris 套裝解決方案搭配 Arantech 的 touchpoint™ – Iris 是今日行動業者所採用的最先進客戶經驗管理解決方案,搭配 Arantech 的 touchpoint 使用,可消除網路與服務效能智能間的落差,以獨特的廣度與深度, 提供可據以行動的資訊。以單一完全整合的「封包到人員」解決方案,透過完整的服務供應鏈 (可包含多種技術與實體介面),確保服務效能與經驗。
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4#
發表於 2012-6-28 13:37:10 | 顯示全部樓層
Tektronix全自動Thunderbolt發射器相容性測試隆重登場0 x% U6 y9 @  v( i& k8 T
業界唯一Thunderbolt同時雙通道測試解決方案,除提供最快速的回應外,還支援接收器測試
) E- ~9 w% V7 C6 w, k7 Z# w2 A9 u6 e. K
6 }' k+ O# X' h6 p; W! a% o【2012 年 6 月 28 日 台 北 訊】–全球示波器領導廠商Tektronix 宣佈,推出Thunderbolt技術的全自動發射器 (TX) 相容性測試解決方案,提供業界最快的測試執行及回應速度。Tektronix還宣布推出可加速Thunderbolt接收器 (Rx) 測試工作的設定。" r6 N% n0 e, O3 \, B  W
/ a, x# L+ f1 M0 E
Thunderbolt是一項轉型的I/O技術,是目前I/O技術在效能和靈活性方面的大躍進。它提供一個單一纜線上的兩個10Gbps雙向通道,以簡化終端使用者對PCI Express和DisplayPort協定支援的使用經驗。對面臨Thunderbolt-enabled功能設計,和向消費者提供產品有時間壓力的工程師來說,Tektronix提供他們所需要的測試工具,讓他們在深入分析設計問題的同時,減少測試的設定和運行時間。
5 F5 M; S: B( a9 H% _
) a+ p; Q' K& kTektronix DSA70000系列示波器的最新自動Thunderbolt發射器測試解決方案,是業界率先為待測裝置 (DUT) 提供的狀態控制功能,能支援雙通道測試。相較於一次只支援單通道的其他產品,Tektronix解決方案大幅縮短測試時間,並提升了工程生產力。在接收端,Tektronix提供12.5 Gbps BSA系列BERTscope更詳細的設定,以進行更快和更多接收端的一致性測試。
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5#
發表於 2012-6-28 13:37:27 | 顯示全部樓層
另一個Tektronix Thunderbolt 測試解決方案的優勢 (尤其是指實體層的除錯挑戰) 是,支援有界不相關抖動 (BUJ) 的抖動分離。這種形式的抖動,通常發生在相鄰高速通道的串音 (如Thunderbolt中所使用的串音)。其他的抖動分解模型將BUJ錯置在隨機抖動中,使設計人員難以隔離串音的問題。9 ^6 t4 Z# i, o2 r8 ]) c4 z3 G

2 U& C+ O! ]6 {& A$ j2 ]Tektronix Thunderbolt解決方案,能進一步充分支援顯示技術的標準,包括DisplayPort和雙模式DisplayPort。這允許設計人員使用相同的測試工具,確保跨多個顯示標準的互通性。
  B, u) X* i2 h$ Y, s* T8 @6 w$ Y9 v
Tektronix效能示波器總經理Brian Reich表示:「Thunderbolt整合了現有I/O技術的速度和相容性,這是10年左右才會出現一次的突破性技術類型。自Thunderbolt成立以來我們一直與英特爾密切合作,以開發同級最佳工具的廣泛產品組合,協助客戶有效地將Thunderbolt產品推向市場。」
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- D) e' F7 f" w3 V1 p1 R: W! P. w供貨狀況! G# K+ S7 i7 P! ~4 C! M6 X, e+ X
Tektronix自動發射器測試解決方案和接收器測試設定的Thunderbolt產品現已全球上市。
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6#
發表於 2013-1-30 11:22:16 | 顯示全部樓層
Tektronix推出適用於100 G網路設計和測試的全新32 Gb/s多通道誤碼率分析儀
6 M  e  }0 s% K8 c1 f, ]擴大市場領先的BERT產品組合,以其100 G LR4/ER4標準支援多通道測試所需的相干性光調變格式% ?4 K) l9 V9 d  c9 U5 \: }

' a) ?$ g: m6 P% R! N" j【2013 年 1 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,一系列新的高速碼型產生器和誤碼檢測器,可支援高達32 Gb/s的光通訊和串列資料通訊測試。PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器具有多通道碼型產生與使用者自定碼型編程功能,適用於類似100 G乙太網路這類的特定標準,多達4通道進行特殊的訊號品質範圍測試(Margin Test)。
+ B% K9 x: x7 ^) W" f; i5 V, A- ^1 R4 V& M- R6 p6 D0 x" ?
市場比以往更投入高速光通訊和資料通訊的開發,以因應像智慧型手機、平板電腦和視訊應用等需大量頻寬測試的不斷快速需求。資料通訊研究人員和設計人員也同樣需要高速測試設備,分析和測試光學和串列介面的特性,通常他們採用每通道10到32 Gb/s資料速率的多通道儀器。  
) S. a, ]4 J1 ]6 U( n2 u! T- B) p7 o) }
6 q' Y* l, ?3 Z: h, [對測試相干性光調變格式 (如DP-QPSK),PPG3000系列可以其4相位對齊的通道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性訊號分析儀使用,使光學設計人員即時優化和驗證相干性調變格式。 + \; q0 i& C/ ]4 K# ]/ S" x
6 K& B8 a1 W& b
對誤碼率測試,PED3000系列可結合PPG3000功能,提供高達32 GB/s誤碼率分析與多通道支援,以便快速識别常見的多通道資料通訊架構的串音問題。例如,IEEE802.3ba標準測試,設計人員可以模擬4×28 G測試平台,為他們的接收器設計進行壓力測試。32 Gb/s的資料率輸出與抖動調整插入能力,使設計公司擁有業界最好的邊際功能、更高的產量和最佳的終端產品或晶片效能,順利將其產品推向市場。5 ]9 _2 V( a) ~4 ~2 R
0 U$ T: d, D' W6 W
Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示:「在BERT產品組合內加入PPG3000和PED3000系列,使我們能夠為客戶提供100 G標準測試的選擇。深入分析需要準確的訊號完整性,我們將持續提供我們屢獲獎項的BERTScope系列。新的PPG3000和PED3000的加入,能夠進行需要多通道資料對齊高達32 Gb/s碼型產生的BERT測試。
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7#
發表於 2013-1-30 11:22:24 | 顯示全部樓層
多通道碼型產生
/ B" Y' k$ H% G2 Y3 }3 j+ G: _PPG3000系列共6種型號,包括30 Gb/s或32 Gb/s速度的一個、兩個或四個通道的機型。這些儀器擁有如同步和相位調整輸出和PRBS,或使用者定義的碼型產生功能,能靈活提供廣泛設計問題 (包括串音) 的疑難排解。隨著資料速率的增加,如100 G乙太網路這類多通道配置也變得司空見慣,串音儼然已成為主要的設計挑戰。
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* y2 c8 n% Q" M/ t4 O3 ~  D2 L多通道BER測試
6 B, n4 `' e. B2 {: Z0 W4 q  APED3000系列使用一個或兩個通道的誤碼檢測器,能進行如100 G乙太網路這般多通道標準的全面性測試。該儀器結合優異的靈敏度 (30 Gb/s時可量測到<20 mV的訊號) 與業界最廣泛的資料速率 (範圍從32 Mb/s至32 Gb/s)。誤碼檢查功能包括PRBS或使用者定義碼型、DC耦合差動資料輸入、單端時脈輸入,以及自動校準輸入碼型。 ' A9 R/ f) I/ L
8 ?- X6 M% \- g& n/ I3 Q0 K
靈活性,可用性
& f1 r0 e# t+ J; b( QPPG3000和PED3000系列可單獨或搭配其他Tektronix儀器,作為完全整合的系統使用,為設計人員提供廣泛的資料傳輸速率、碼型、壓力和輸出位準,以解決一系列的標準問題。使用者可使用易於操作的觸控式螢幕圖形使用者介面,立即快速配置測試解決方案,此簡單的操作可縮短訓練時間並提高測試效率。- w; D) s6 f2 N$ N" ?) ^
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供貨情形9 v) y& q* E6 p& ^! [8 B6 e
PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器已於2012年12月推出。
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8#
發表於 2013-5-15 13:20:27 | 顯示全部樓層
Tektronix 在 Design Automation Conference 2013展示 ASIC 原型設計除錯解決方案, i( n% z" Z+ z! L2 u
與會者將體驗到 RTL 模擬級可視性讓多個 FPGA 原型設計無需重新編譯,更快、更有效地進行除錯& ~; L- M+ {- g

( X5 I" ~/ b1 n( K# s【2013 年 5 月 15 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,將在 6 月2 至 6 日於美國德州奧斯汀所舉辦的 2013 Design Automation Conference (DAC) 會議中,展示近日推出的 Certus 2.0 ASIC 原型設計除錯解決方案,攤位編號為 819。DAC 是電子系統的設計與自動化 (EDA)、嵌入式系統與軟體 (ESS) 和智慧財產 (IP) 等領域首屈一指的盛會。
5 T  h/ J' H) H: E$ m
2 D1 Y6 d% f( t, M首次在 DAC 展示的 Certus 2.0 軟體套件和RTL 架構嵌入式儀器,啟用了完整的 RTL 級可視性,並讓原型設計平台具備 FPGA 內部可視性功能,對 ASIC 原型設計流程產生了重大的改變。此模擬級可視性能讓工程師能在一天內診斷出多項瑕疵;相較於使用現有的工具,可能要花上一個星期或更長的時間才能達成。* e0 C! w' T+ E
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Tektronix 嵌入式儀器事業群總經理Dave Farrell表示:「FPGA 生態系統中沒有 ASIC 原型設計的主動除錯功能。DAC 與會者將會親眼看到 Certus 2.0 如何顛覆 ASIC 原型設計流程,並大幅提升除錯產能」。
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9#
發表於 2013-5-15 13:20:43 | 顯示全部樓層
主動除錯策略
. F  L. N* t* W# A" M$ s) F: @$ n: l6 u7 X# X1 f$ h
Certus 2.0 讓設計人員針對多個受FPGA LUT 些微影響的FPGA ASIC 原型設計中各個FPGA,自動檢測其中可能需要的所有訊號。這使主動除錯和檢測策略無需重新編譯 FPGA,即可針對每一個新行為進行除錯;相較於使用傳統工具,通常要耗費 8 到 18 個小時的冗長痛苦過程。下列為其他的主要功能:" V+ J0 _0 _, U" c
5 w7 ]" ^$ E; |! K
•        按類型和實體名稱自動識別和檢測 RTL 訊號,包括正反器 (flip-flops)、狀態機器、介面和列舉類型
& O# j3 D; k# y5 J7 N0 w  _•        無需特殊的外部硬體或消耗 FPGA I/O 資源,即可在晶片上以高速擷取並壓縮許多資料* [& D* a0 p+ X) s9 R
•        進階的晶片觸發功能,將邏輯分析儀的觸發方法引進嵌入式儀器( a  g0 y2 C1 _' z. f/ M' I
•        跨時脈域和多個 FPGA 的時間關聯擷取結果,提供整個目標設計的全系統視圖( x6 L3 X: g* y( V+ Q
9 w* G; E7 {. `  J, \' ]8 t
Certus 2.0 可以在不需要任何特殊的接頭、纜線或外部硬體的情況下,在任何現有的商業或客製 ASIC 原型設計平台上運作。
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