薄膜太陽能的 AOI metrology 設備

drschenkfareast

我們是提供 thin film solar 的 AOI metrology 設備, 包括

- Surface defect inspection
- Measurement unit like resistance, thickness etc
- MCT insulation tester etc

需然我們已提供數十套設備, 但不同的用戶, 對設備的反應完全不同, 有部份認為, 沒有檢測設備, 等於閉上眼睛開車, 但有部份客戶則認為 AOI 設備完全沒用.

所以, 求教一下各位大哥, 對 thin film solar 的 AOI 發表一下意見, 感慨不盡  

drschenkfareast

太陽能新進大人

Thin film 大家都是菜鳥啦, 我們的設備是德國的, 公司有 24 年歷史了, 東西很不錯啦, 你高興我 email 一份 catalogue 給你參考好了.

Thank you for your interested in our products  

drschenkfareast

Dear Sirs,

在 thin film solar, defect size 跟 Flat panel 不同,  single defect size 隨了 edge defect 外, 單一 defect 不是 kill factor.
而 defect kind and defect density 才是需要管控的, 如 Particles bigger than XXX within XX piece in 1 sq m.
謝謝

drschenkfareast

May 6-8 在上海有個大型的太陽能展.

向各位報告, 在大陸說投資 thin film 的倒真不少.

有需要 AOI 的也愈來愈多了

drschenkfareast

向師兄報告, solar cell 的 kill defect size 有愈來愈收小的趨勢, 現在有客戶還要求 100 micron 的 defect.

但 defect 還是以 defect density 為主要考慮.