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其實以新人來說1 q% [' K M5 ` k- O
回答這類問題並不用太傷腦筋
2 l2 Z& _. p1 |4 ?" r主管是要看你了解這東西的程度
! ~8 ]/ Q1 Z% c7 X' U8 {提供個答案供大家參考+ X: p; [) M9 x2 R x. Z9 t
ESD 是靜電放電沒錯
; ]9 d2 K% \# A& u: L$ c不過可以提一下它有哪幾種發生的機制$ b/ A" m9 p0 [
ESD 共有三種機制需要測試
9 m: ~0 Z' b' ^4 l! V7 R) v分別為HBM(Human Body Mode)..MM(Machine Mode)...CDM(Charged Device Mode)3 Y$ _0 D( Q9 V4 u T
預防對策則為...& S. ]+ y5 l8 g3 P v4 l
power & ground pin 使用 power clamping
+ \; q& y+ P& sI/O pin 做 ESD protect device
+ b: f7 S' T/ L* U) jinternorl circuit 有接到pad path 的mos....drain端做ESD rule放大
8 @& D* L8 j1 l$ W- E3 ~
+ T9 V" }' k9 o6 b: t1 q3 C6 rLatch-up 可以用簡單的話來解釋
( `) @3 U- N# c/ ]+ ?$ a1 d; {power & ground path 寄生BJT形成SCR電路1 N( u% W6 z- `, h) O
經由電源擾動....產生大電流的拴鎖現象* j0 b+ X S" u0 |/ ?( H' f. Q2 [
造成pwer與ground的虛短路(可以畫一下寄生BJTs形成SCR的電路模型), j* U" q- b5 A( \8 Y0 P+ l* s; B
ESD討論版有篇關於latch-up的文章* T; Z1 [: m' g# j: f
可以view一下剖面圖跟等效電路圖
a2 `: d, m6 E! |' i由剖面圖跟等效電路圖就能推敲出
g q+ v( B- V0 M# F" Xlatch-up該怎預防5 B& H: n& C/ S
1.盡可能補上well-contact以及subtract-contact4 x, S$ n! L" @' W% Q0 b% [
其用意是為了降低Rw跟Rs的阻抗., t: ?" H- g7 z
2.靠近PAD區域的circuit,pmos與nmos之間的距離拉開
g( v2 P2 i4 s0 ]: M 並且保持gurdring的完整.
3 T4 i2 a S9 p% R" E2 S, {% p2 n M2 [ (p,nmos拉開由剖面圖可看出Q1base跟Q2 collector之間的阻抗會增加 )
1 W9 k( `% \- V, U# i0 ^# I5 A9 `' W- g& C4 a
若有解釋錯誤或是哪不夠詳細的3 H: }: D# v) v
歡迎大家一起討論 ^^2 s7 A: }1 A3 ~6 R- i
4 |' D5 m! [% C
PS: latch-up比較常發生在pad週遭....內部電路比較少發生
; f# z: S; c' C 個人是認為...ESD發生時也有可能引起latch-up7 X2 K" g' u J$ ^' i4 ^2 |
不知大夥的見解為何?! |
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