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[問題求助] ESD失效分析求助

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1#
發表於 2010-11-20 14:59:18 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
2颗VDD到地测试
/ p3 Z! }6 @. J- K4 A1),第1颗从500V开始测试,大部分在500V时就失效
. N: m, f/ m; Q9 Z! s8 Q2),第2颗从1000V开始测试,大部分在1500V时失效! h* c' P. \% y9 t: K# K9 R
电源到地的结构为分布式的GGNMOS结构9 H) |. {9 w4 o+ R
失效机理是怎么会事,多谢
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2#
發表於 2011-1-18 14:32:02 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:( a; C8 N# X0 d. R" `
1. 請問製程為何?) L; N+ [  j- _9 j
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V開始打, 為何?
6 R! S% j7 x5 \9 l2 x' L6 V, Z3. 你的GGNMOS的W=?, L=?, M=?, DCG=?2 k+ N% \# n6 V2 J" `& S& f$ Q1 r, C# {: ?
要有上述的數據才能做最基本的分析.
3#
 樓主| 發表於 2011-3-27 11:34:00 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:+ X2 t. n+ T* q2 K7 K
1. 請問製程為何?: Q: u& ]7 Z6 w# a
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...
. Y7 t0 Z! `! P, Eklim 發表於 2011-1-18 14:32

) y+ T+ [" ~* G
5 ]' t. s8 t1 k! ]% j1), 請問製程為何?$ U" _+ Q# E) }/ K+ G
tsmc 0.18um
% P4 x: i0 u9 v: ]7 V7 {& \$ G$ j$ P9 \& b  Y( |
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...  I3 F& u+ q2 R; J$ l  k2 J
两个芯片均测试HBM模式,故意一个从500V开始打,一个从1000V开始打
! Q; `1 z) A& C' G$ H- t/ m8 u+ f+ q4 N
3.ESD 的layout遵循了TSMC的<<esd design rule>>,只是没有固定的电源引脚,而是,通过配制IO口的属性来设置电源引脚的位置
4#
發表於 2012-2-12 13:41:58 | 只看該作者
感兴趣问题的进展,是样品概率问题吗?
5#
 樓主| 發表於 2012-3-13 20:20:27 | 只看該作者
感谢关注,ESD问题已经解决
6#
發表於 2012-7-12 12:21:25 | 只看該作者
how to resolved it????
7#
 樓主| 發表於 2012-8-21 21:40:30 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路
8#
發表於 2013-10-13 02:30:06 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路 ??4 h* y  ?* e  m9 T  v
均勻是指什麼0 m+ ?5 ]7 e' r$ `& a, H
方便貼圖上來嗎
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