逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
9 T+ d1 n& M; _4 p4 a9 B時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
8 l# |0 p& q/ c7 ~(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
9 z0 B2 \6 s0 y( d2 r地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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- x% j3 v' |2 u3 S6 C# C! O1 F, |+ e主辦單位：經濟部標準檢驗局
  L' P3 c) G! t" Y6 D) S承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
5 r. a) M7 g" Z& I時     間        活 動 內 容
6 Y" v/ e6 U. A8:30-9:00        報      到
% c# O! n- ?/ R7 m9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9 J( S" ^& ~2 z* C1 ~" ]4 X9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
2 g. z& u& ?1 e% k6 a* P1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
4 f' k9 j) j+ j- Noise measurement procedure
) K# v; c# f4 B3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
$ @5 y+ r" O1 u" g# d- Shielding
' ]+ P* M5 \: \3 \. q- PCB Layout
* D9 t3 z0 Y+ }" h) {4. 電源完整性(PI)之分析與設計
0 l2 O0 U/ ]( d. Q. u8 n0 K0 S& k0 v- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
; R& b; H1 S# e9 B0 a$ s4 H- Y- Measurements for Signal Integrity
3 @$ ~6 k) K9 {2 z+ S- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


5 |: e" _: I, n( a  y97年11月04日 (星期二)
3 D' z1 ?3 c3 e; H0 j2 M
7 g" l! h& @; k9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
電磁模擬範例分析
1 B  h% e# ^* D; G2 X6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
- R$ J- o7 a8 R1 }6 u•        WBFC Modeling and Simulation
# l) X, G, Z  m6 V7 S•        MP Modeling and Simulation
% Y, S4 M. r) f/ g0 c4 `$ N# \1 p•        TEM Cell Modeling and Simulation
* O0 |7 Z9 c! ~& m  d- General Noise Characteristics
- k3 p' s- Y; U4 L- Power Noise Study
; C6 _* Z  R* ~* [& U- Signal Noise and SI Study
8 I; b$ y3 B, A. x" w/ f�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
2 V  W3 Z8 J* S7 g' ^2 `7. Trend of EMC issues on chip-level
8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
4 W3 L) K! I8 r2 Q$ ^- Q- O  `9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
+ F, `6 J- Q/ r內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
3 d; o4 }2 Y' Z/ N. ~/ K5 |" K# o11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
% B3 ~9 M$ O' z: \, B6 S1 [( n9 o2 F
3 W9 j' g7 X; c7 p6 V- |8 n至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

) p' j0 \( \1 f5 S至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

; o; S4 n% M% R7 S% E9 {" Y
! j0 D  N' T+ w. l好方法
* w6 @: t& k0 N0 X* v' z. Y
可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？

1． 上升時間和信號完整性
% g1 {' S7 m- }6 W2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
0 R$ _  ~7 E, V$ e, D$ Z4． 如何消除反射
( k4 C; Q# J: k5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
9 g, V0 `5 {# C) N6 q8 S8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
/ x+ p6 g0 k' q6 l& ~" ?" i3 w4 A  j+ X, }10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！