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儀科中心紐倫堡發明展再度奪二金
新竹訊】國研院儀器科技中心今年以「晶片瑕疵檢測裝置及其檢測方法」與「透鏡量測裝置及其量測方法」兩項作品,再獲得德國紐倫堡發明展(iENA)金牌。5 b, x3 e: E7 S7 z4 Z4 [% C
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「晶片瑕疵檢測裝置及其檢測方法」是以該中心自行開發的數值判斷模式取代一般瑕疵檢測的方法,大幅縮短檢測時間。該專利為接受國內知名設備廠商均豪精密工業公司委託研究案的衍生專利,目的為整合自動光學檢測功能,縮短現有晶粒篩選時間與步驟,提升廠商產品競爭能力。; V0 h3 z. k* Z" l, t G' m1 C2 ^$ O; D
) Y# s+ N9 `2 P5 U( D「透鏡量測裝置及其量測方法」是儀科中心與台灣大學機械系教授馬劍清共同合作,採極化光學原理,利用自動化光學檢測與影像處理技術,提供透鏡偏心與傾斜誤差線上快速檢測,可應用於高產能的塑膠射出與玻璃模造透鏡。& p ~- x# D) `9 Z% }: Y% G
5 j/ R" x$ ?, ^" T儀科中心近年來配合國家科技政策,推動前瞻科技研發,致力提升我國學術研究水準與高科技產業技術。為提高成果可見度,展示我國科技實力,積極參與國際活動,所獲得的輝煌成績,不僅突顯儀科研發成果獲國際肯定,也展現儀科中心在支援前瞻學術研究與高科技產業發展上的具體貢獻。 |
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