Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 4405|回復: 2
打印 上一主題 下一主題

[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 8 C+ E& A- u$ r  W5 i: J( E
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 - Q- X* S9 C, n) |& f, Y+ _
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) ( d% I% o" g2 y& C" s9 u. `
●課程費用:5,000(含稅) . B- q( }: Z  }+ U. ~9 C
●報名截止日期:100/12/01(四) / Y7 K4 O' N+ a4 c( y" f
●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
% R# }5 V, e8 H0 D9 }; j  N, }●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 * |. S- l+ ]- R' W
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網/ q# v, j  |$ B: W2 s8 H  Q6 H
. ~% k& P! [* \: x8 v$ y( O
■課程目標
4 K7 F' `: Y5 ^1 P3 ~! {& y) a) s  [' O3 f- F. \
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。& P* @  m* i# i! ^' D

* N& |5 Y& g4 g% C: X■課程大綱: I2 p* p5 A( R
第一天:12/08(四)9:00~16:00 2 V3 J, p& e8 j* f- f9 I- Y
專利檢索入門與檢索規畫 8 t; M4 m9 {1 H5 Z; \; }1 ~
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
5 p$ y- \4 b6 H5 X9 C' F, Q專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 * ^4 P7 V" _) }! ?

& i) i9 V7 d( M3 Z+ g1 }第二天:12/09(五) 9:00~16:00 # n4 a  I( k& o
專利分析可提供之情報 ; Z* l4 I- Z( \4 i4 `  r
專利地圖試做範例
9 N/ B6 [$ q- ]: \進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
; \& |. A$ D5 Z+ z6 E*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹
/ Z0 {+ o: h9 ?7 Y- y吳俊逸 博士
# C1 I3 d" W/ i7 x5 t在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
5 @: Y8 k! c7 u: x) Z現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
( @9 y) _1 j. J- Q, x9 ~學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士
& A: I. N) ?, Y# N國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
' J! P( V. X* p$ T
4 I; `, }1 u- q: j% i& ~- \專長與經驗:
- ^1 W0 T2 K9 L0 H' |3 _4 ]1 b 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March). - f4 T1 @- _) e& Y. w& Z
 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). & O; a( \8 i) W/ e
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
, b0 k: k5 a. U" @% {$ e 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
3 K5 W& ^1 K5 H6 Z  }" d% P
" A1 r& @+ ^# f, [, S5 `經歷: 5 T, i7 p( h! K

2 b) `* f0 L# Q' e3 O, V7 _工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 " w, t" x3 {, k
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 8 T$ _4 S# M; S+ m; {2 R9 ?
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。- D3 h8 z( e; m
- D; j# v6 J; D
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。' b# L* }* S# [

) w! d9 L, g$ m) I- ~. b% ?本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
4 H  R' L) \& {0 m7 T0 x1 q! [7 k3 C
# d" y1 G1 i! F: G5 J! q1 u0 [訊息來源:財團法人資訊工業策進會
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-6-13 07:55 PM , Processed in 0.143518 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表