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[問題求助] poly fuse 的問題

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1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對...
% \. K! u, Q/ R& P9 U0 X. I' ^$ @- m: `* p  c
想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..4 v& @! H9 G+ @
一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產,
: F; a' }2 Q, Z) spoly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個
9 B* U7 @* Y$ S0 v" {lot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
9 r- a( l2 V# N: s% T% d* g/ v; m6 `- S  l# f
目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說...
/ F1 b  t0 w: T, M7 R2 V# ?2 m, {' r0 k. H& ~0 w  H. T
先感謝前輩們的分享..+ z2 z% D% `: b

6 n: U& B4 x! Q以下是 Fuse & Trim 的相關討論:
& c( y. Q' ]+ F( te-fuse?  $ n2 p& L$ b$ ^2 j5 N7 A. h
poly fuse 大約多少能量便可以燒斷? # r* f0 z0 q' B- d
如何判断poly fuse 已经blown  8 q6 j0 L5 ]8 b6 H- @& N
有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  
$ A" P- c' z& C. j0 i6 kLaser Trim
- C; Y5 Z, ^& g: A( u5 G做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  
) N, g' A3 G4 d$ k* s3 oTrimming method?   * Y" u  w0 S, R) k: `. A8 I+ u
Current Sensing Resistor Trimming!!   % M9 @  o# ^9 v- s* z
请教做laser trim的注意事项  
! ~* J; q. Q' ?6 z$ j- X  RCurrent trimming 要如何做呢?  2 h" O  n& J& ?4 k2 H. Q( \2 [

- l7 O7 M$ l: `1 j, X, x; i) Z5 _) d
) W) U+ c8 R, v; ~2 Z
* a4 }3 T( ?' Y: t* ?! C

4 t+ L- b$ k/ A4 M% F! ?& X[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

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2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?" O  a$ E, }9 l" _; l& e
2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!9 f/ U4 A8 E! g$ S. ?# y
結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

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wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
mt7344 + 3 Good answer!

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4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...* @( w9 w/ H. V" H& j/ ~9 S
我看到的fuse 很少有用poly fuse3 I  K5 s$ B$ U( w
通常是用metal fuse.../ x8 Y* f2 m/ a6 @, D
我以前看過有使用poly fuse; W* n8 V/ g2 E8 k0 i7 E. ]' D/ `
1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)
0 g) e" t  y! Z* V1 u5 y5 P' V. E" _大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷" [) |! T4 T; q; z% y9 x% p
有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)/ B3 l; C& {( h# O
發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了
$ w) {+ l# F& ?7 z& Y9 p( @才發現到layout 的形狀也是蠻重要的
" k* `" s" {* m' h. {7 g最好要有轉角(電流集中)6 K1 \* p0 N4 G" Z
2.fuse 的地方通常會開window
1 Y7 R0 D: I1 i/ P4 r......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???
# ^8 U4 n% V8 ?; t) i% i% [" H( Z目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........
& _  e# v% \1 C5 x7 K
" v/ @( e/ t! M; C7 N% z, U% v1 ?以上是實際的經歷,僅共參考

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skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..
. @5 z; Z0 ^, V, }  _
3 C7 R! ?+ s' E) W+ r2 ~8 y+ P" u關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...)
* q  B9 l; y2 A, Q6 b1 {% r4 a5 ~, a
不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...0 q2 B" N1 v8 J
) x# n3 N; g" A  _1 S7 B
另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...
9 Z% Q! z$ \& T! p# o& E
- z5 X: w/ l* z不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??
& x6 c  u  l, V( O8 E, g) u3 o) S- O- c. B7 t) L( }$ k
另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )  K. b5 L( |$ c
1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..
1 `7 n% [7 x8 h
0 P5 I4 N' W) @2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

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mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

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6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法
; z3 A! X- ^3 z1 [  i   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)' L! l  a3 x7 R; e1 F( f- P
   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確
' f& ]: g) I. |; p   但是工程樣品的數據大約 80% .7 _! J7 o* `; Z6 i( S

( H3 _6 X% K. e6 f; i$ @- Q# f$ d2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷
* ?8 ]% ?3 o& I8 F9 u: |   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去
+ ~2 i% E6 N  A$ u  L2 S# s
# d6 q5 {* y/ r7 y' G3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人)
( j" L# Q/ ~- v3 r8 g! x: k   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....! u2 @+ V) l0 U  }- q9 w

$ X0 M! F9 `+ k5 h  r4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考$ z% ~/ E* D) y
   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
# v+ s: m7 d' O* i7 v$ A' C6 m+ l   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
$ M& Y5 x5 N0 N0 Y. n8 M) S   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),* P1 p1 N& A; ^$ v  R4 Y' p
   面積當然省啦.....$ v9 t& A. v9 d7 A
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以: W5 Z! F) g9 ]! W, d6 a
   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給
3 }" o; p8 ?" p2 e   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

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參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

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7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

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參與人數 2 +8 收起 理由
wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

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8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?
5 J% G# n; Q! M* j* g/ R7 R" E0 MThanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表
$ p- K# {* C  h6 F* X4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
1 O& \) K4 F$ u: E5 w* @   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
+ B' ~( y3 b  U/ y* r% q! N   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的( K: s+ Z$ ^) n' E2 b
   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),/ A- K! ?1 K- Y5 U$ U1 R
   面積當然省啦.....
% k4 z4 F% V& b   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
7 }; W9 O( t. k   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給# \$ b! H4 i8 d6 @
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看...8 p3 s2 C' j3 ~" z' L9 x
# e  Y+ h. d, V

2 |+ v3 K$ r1 v看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法..." ?/ P8 J3 T/ ]- s& s* H& w
嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心
2 G6 ], q) ~6 P; Z2 d水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..)
- T7 h) B# m( f* s( C* l% L
! _! D0 ]  A9 l3 q! a$ a3 p不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...$ l& ~& l3 }" Z9 h9 g% J4 W
手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...
6 ?. o5 O6 D1 W呵呵... : N5 A: b. h$ P
$ e7 n0 s4 S, P7 K' r: Z& X3 X
順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目# ]* H- c) e% }/ U* e
就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手 * l* j/ m3 S$ s* V  j4 |+ c
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
: J  d: A: p' Y# X& m; M謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表
  S. l% k7 _5 y0 j6 Y- p8 T! `3 p請問 各位高手
# S0 `- M5 U+ W   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
" ?, O+ p, a5 h( k" n2 {: P謝謝
  B- Y& k2 t9 M7 I# r" d8 f) G
# ?' j1 {. O+ o
您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號
5 \7 [8 O9 Q. I又可以用來 trim fuse??( d4 s8 t+ i5 \6 {- N0 k+ Q
- b' G3 d% Z$ M$ h
如果是後者應該是不行的吧....
1 J9 l* D1 {; I: N; M" e如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的
( Q/ w* t8 `9 f% E電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...
- B' S4 s% |! t' a6 V3 F( _$ T) v
不知道是否有回答您的問題.......

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12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!& G0 }, _, B: Q0 [% d7 Z: o' ~
最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言.....
* `4 ~. O3 n7 D6 A不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?
" u; U; H. p0 P9 Q3 j9 Q+ l. g# z' G- l先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題 $ A+ }4 L/ e# W

9 g% W( p9 ^9 Z. W+ I( Y- h" J$ D我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的
3 Y- m% w$ }1 X3 O* X0 ^% ?% }# H
( _/ p; K* s7 q. g% v2 [也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的# k6 |  |) {. m7 r* U  E- {

. G; N4 {1 ?2 p7 l( l) F[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),
/ V* ?  O8 r5 I* _還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1 ' I, L9 s" W0 m/ v% k2 v
; x4 x: P* e5 J! p
1 d" M. W* w- P7 r2 K1 S: u* ^( {
    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777 9 O$ d4 i5 p4 N: d7 `
1 Y# p$ S+ a0 y0 ^* u4 @6 ~/ ]
0 G( ?  Z  m7 e
    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM
, I5 y  y$ s* c4 t5 |, rpoly fuse ...3 z7 `9 }- _: \
我看到的fuse 很少有用poly fuse+ r3 u5 N$ J! a: M8 P  i6 I
通常是用metal fuse...
# M- t' Z8 U" ]5 H  Q# o. _

- {/ s: r: y9 K: }% D* l  Y/ g2 l6 |* t& V$ Q) f6 V
很有用的經驗, 感謝分享..

6 _% X8 `! @9 z1 [
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!
, B4 Z' E! `2 f" g  E" w+ |
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