尋求開發一種能一次檢測60顆IC的檢測設備

atitizz

主要難題：我們有單獨檢測IC晶片的檢測儀(即讀卡器),但我們要開發一種能一次檢測60顆的檢測設備,即把原來單獨檢測開發成連續檢測

+ l! f3 U* y/ I4 g( a! a0 z# f擬提供資金1萬元RMB。能者與意者請跟貼討論，或發短消息、email 研發簡歷 與chip123聯絡。