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[問題求助] 請教 Band-gap BJT 如果 layout 不 match

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1#
發表於 2008-11-30 12:03:32 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
有一問題想跟大大们請益??
: V+ b* g" F2 f( A% Y( G如果是 bandgap 內bipolar layout 因製程變異; 導致silicon 上所見 並非如 cuicuit 上所建 1:8;
* W& i; v1 ?# E. h2 ^
  M5 v7 G9 Z% A  X4 k% h那麼在 silicon 上所見到的 reference voltage electric 特性會變怎樣.8 c/ J7 u9 k( d# ?6 U
! ^+ h2 a7 Z7 X) h7 q/ M2 C# ]! ]
歡迎大家發言...8 r* I9 w5 t5 T( ^6 d9 u5 }
謝謝% |( J, n( ^$ f$ r
4 s9 c5 L) C' A8 n, c
. c- ^' U1 ?: t) }9 _' F( F+ }, e& I
以下是 bandgap voltage reference 的相關討論:
- U2 R( P+ v* ybandgap無法將壓差降低    y" b/ x2 ]8 ~/ D" K4 z! w, X
bandgap voltage reference? 3 f% b8 }- Z) _! F! A6 g. ]: n* ^
關於CMOS的正負Tc * C( c# X3 }* i1 e9 ?0 M$ e
如何在CMOS process 中做好溫度感應器?
3 @9 t/ c- B2 T5 X" m9 z請問有關 bandgap 內 op的 spec ....# ?& B( Z9 M" n" v/ C. ^0 W
bandgap的模擬問題 (單N,PMOS組成) 5 j; }) |3 ]$ w( f# |: \( I# M
BandgapDC扫描温度特性时,不能正常工作
/ ?8 O# k# `! ^1 i- {- `( _4 i- O0 `; Z5 @, h5 M2 q2 V

. b3 N; Q! r! H' R4 L3 K" F7 R, p$ J2 j2 G5 W  h
[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 05:54 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-11-30 20:23:31 | 只看該作者
1:8的设计一般不会出问题的,倒是Res的matching倒是要注意
3#
 樓主| 發表於 2008-11-30 21:31:58 | 只看該作者
Dear S 大:
7 i5 t- i1 f5 a6 B- g 怎樣說 為何通常 bjt 不會有大問題 ? ) z, [/ `+ G: ^0 ]0 g
例如 九公格內的單一unit 是 1umx1um 好 還是 10umx10um 好 ??
3 _. V! O  r' |
4 G. G4 d  ~+ f! P3 e- G. H如果沒選好 ....影響有多大 ???
9 m6 O" Q3 E* d& j這能用 monte carole 來仿看看嗎 ??
( I- N# d& N- z( v8 Z. p* O
% x5 C4 N% [; q+ i多謝.( ?' {" ]( z0 E1 F$ ^+ A. O
4#
發表於 2008-12-1 00:13:48 | 只看該作者
我個人都是選10x10的BJT+ u- i3 b2 `5 K
以前我們曾從HSPICE Model來看,發覺到10X10在溫度係數上相較於其他size是比較穩的,不過,各家製程廠不見得都會是這種情況,所以,必需以各家所提供的HSICE model比較後才會知道9 l, O, d9 ]( Q/ f& G. b
至於1:8,若沒有照九宮格的layout排法,在製程上是不會有問題,但出現的performance可能會有一些小問題,但影響多大,其實很難說,畢竟T公司的技術比起其他三級的製程廠技術來說,這些小地方就決定了T公司的價值存在,有些三級製程廠所提供的HSPICE model還不見得很準,有時還得下test key來驗證一下它的HSPICE model的準確性+ A; \  q$ R3 V& `4 \' S( @0 W
至於monte carole能不能模擬出來看,當然有辦法模擬,但成效如何,其實還是得看製程廠的技術和提供的model
5#
發表於 2008-12-1 16:02:04 | 只看該作者
是的,一般Foundry提供 5×5的;10×10的;20×20的。实际可以看情况!取10×10的是面积和精度的折衷!
6#
發表於 2008-12-2 18:22:26 | 只看該作者
我曾經下過顆包含BJT的Bandgap電路( d4 l' I  w8 g, @( y6 b  }% h

$ H% h0 l5 Q1 r只是測量晶片時8 A$ w3 c6 ]5 a2 Y# ^( J5 k  p1 X9 s

  S) a8 `% i, d3 Uperformce降低相當多啊
) h' ]- F, m' z
7 M3 a# N% E" q: y而且BJT有match到
2 a3 F; a0 l' f2 f9 U. ]2 Y
  ^% a  u6 X, [你可以注意BJT Bandgap是否相當的關鍵重要3 t8 Z7 D9 B" c' `# L

4 a& l) s' T4 ^/ Q再去考量電路的Layout架構
7#
發表於 2008-12-3 11:39:29 | 只看該作者
match对电路影响比较大,如果要降低噪声的话,需要选择较大的bjt,我们选的一般是10×10
8#
發表於 2008-12-3 12:00:30 | 只看該作者
Area 越大,matching 越好
9#
發表於 2009-1-7 18:03:08 | 只看該作者
5×5和10×10在面積上當然10*10的match更好,REF的離散性更好,另外由於E面積的區別,會造成BJT的vbe有所差別
10#
發表於 2009-1-9 14:59:23 | 只看該作者
我的看法是...如果你需要很準的reference電壓
* e5 ^, Z7 C2 c  F: z8 E' h光想靠layout matching是很難的9 G, n/ u. W7 f) \8 S- o& Y( k
多準備一些trim吧
& L7 F) A9 {; d* K基本上1:8已經是ok了
6 |5 L$ {6 L1 m# @/ C重要的是你R的layout跟type
11#
發表於 2009-1-9 16:31:17 | 只看該作者
有種 疊2層 pnp 的 bandgap 架構0 q0 e6 p! P( ?% D

  b3 F3 u, p& S2 p6 V" q5 ~有高人說對製程偏移影響較小9 J  z+ _0 s. J$ B' O9 P8 C

/ Q0 z. j  S5 F" K可惜我只看過 run過  沒實際下ic回來測試過...
12#
發表於 2009-1-12 22:20:18 | 只看該作者
其实可以通过仿真大致的确定一下影响. v3 l* q: T+ X: j/ J, _
不同结构的BG对器件的敏感度是不一样的,可能BJT的变化并无太大影响,也可能有毁坏性的作用
/ l' \( B$ o" B仿真中一般有dc sense仿真(好像主流的仿真工具都有)% B% j/ L- ?6 T6 S, }" L+ C
尝试调试一下期间的参数变化(需要design rule和fab库文件的支持),看看那些器件对BG影响最大
13#
發表於 2009-1-13 17:41:30 | 只看該作者
我们公司的bandgap不用trimming , 加上一个电压跟随器(测量用), 电压变化是正负40mv , 架构还没完全看明白,这个bandgap性能到底如何呢?
14#
發表於 2009-11-25 16:20:15 | 只看該作者
如果是我的話我也是會選擇使用 10 x 10 的 BJT
" x2 F7 S- g) D3 g6 k1 b" q
7 \  V/ N3 p2 @, D6 S, g; z: s原因無他…因為layout area比較大,所以gain到的 delta offset也會比較小2 \. P2 u3 K% h" N' _! U- M3 g) t
# K5 U1 N& b' i9 y
另外,bandgap的分壓電阻我到是覺得還好…因為他是ratio式的2 M& v0 k3 u( Z+ c& ]$ M9 i
6 }# n$ T( z- I  r7 h
所以即使process飄掉的話也是一起飄向同一邊!!!
15#
發表於 2009-12-22 16:24:01 | 只看該作者
The area of emitter will have mismatch and is proportional to the BJT size, thus bigger is better. Also, the bigger the area is , the less sensitive it will be to the current injected.
16#
發表於 2009-12-23 15:43:13 | 只看該作者
回復 13# guang3000
- f  q/ V( g9 X7 P$ k2 z2 n/ g
  P, d* ~' _; X' u3 u    請問一下   在 Bandgap後加一級的 op buffer , 量出來 40 mV 是一堆 IC的量測值吧. P) T: N3 h0 e& [5 x% @
$ v2 s+ S2 T) [9 u- }; G
    這樣子不是會把 每個 op 的 offset 也包含進來了嗎 ? # z) g6 F7 I! M

5 X, Z: K$ {& N% G    有的剛好與 BG 正負相抵, 有的剛好累加, 還是我的解讀有錯呢?
17#
發表於 2011-10-7 16:30:49 | 只看該作者
本帖最後由 2008ql 於 2011-10-7 04:49 PM 編輯 1 M( I+ V5 q. w% O( ~( p
1 `% x/ F6 O% _+ ]
回復 2# semico_ljj % ]4 w8 D" ^& p1 G: K: j8 Z: Q
0 e. _: l8 d4 M7 C- V8 {+ p

, B* [, c3 c% d8 p! z- I$ ?4 ?dear semico_ljj,0 {) B1 x# l+ l# }3 f
我現在做bandgap reference,覺得連接電阻的metal,以及電阻到地的metal對reference輸出的溫飄有較大影響。請問以您的經驗,這種影響大嗎,有什麽改進的措施嗎?
) m5 ?) o( G) X) q. F" K& \& [, H還有從postsim的結果推斷,地電位應該是向上飄了,有這種可能嗎?5 g6 M9 }/ Y+ T
能具體介紹一下您說的電阻匹配嗎?! S) ?+ b7 y3 u4 X1 k/ w" t& C
謝謝!
7 ?  I. F9 n* \0 g; {! F7 [也請其他各位高手指教!
18#
發表於 2012-7-16 20:58:42 | 只看該作者
相同面積下我再公司作通常會選能畫到16或25顆的尺寸(2X2, 5X5, 10X10)
& S5 ^) |3 T8 I& T科數越多OP_OFFSET影響越小
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