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[問題求助] poly fuse 的問題

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1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對...   ?( j# P7 c- w( L
1 K/ `- F( n) P2 P
想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..
7 I/ c. d1 {' y' O' k8 |# u% `一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產, - ?+ B8 l. p+ M. _. L, m  z; Z
poly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個5 Z9 [1 c& ], s4 h. v% L' X! O+ \
lot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
2 N# B' F" K! c, [6 N3 P6 D
( ?: C% V% {, R, z( n" S目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說...
2 L% B' u9 @/ Y% D% d
! e9 C5 d% i8 M6 D先感謝前輩們的分享..
  r  J" C3 O* V# d3 W% ]8 ]
3 w- L  _9 O& E0 e6 f+ O; x6 f- {以下是 Fuse & Trim 的相關討論:1 l: b' n: C- w  [
e-fuse?  
7 F8 ?9 l" B* D* z( F+ A& t9 a2 Qpoly fuse 大約多少能量便可以燒斷? 2 J4 p- L! x9 ?7 F
如何判断poly fuse 已经blown  
8 t! @6 y! ~. m9 J/ N有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  # M1 [2 G2 l3 u1 ]( I7 G! b
Laser Trim ( W4 _  ]) p  L! Z, ^6 r0 Y  i8 o
做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  4 h" @0 d# c0 k8 C9 @, Y& j
Trimming method?   , e. b/ y: P- R( d& d
Current Sensing Resistor Trimming!!   + s0 X! F& [; _: w4 ]
请教做laser trim的注意事项  
1 W+ `' I6 ~: \: W- @Current trimming 要如何做呢?  
/ x% E6 G, d' H  a
- n2 ~/ m8 u' k6 c5 _* a( K
/ Z( i# j. R* o( j- L6 p- p

$ M( h7 g* P. @* G5 t: I5 a1 `
4 r4 }- O1 T' h% f[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

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2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?
" d+ h3 K2 f% p* _2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!4 y5 J+ |! d3 ?8 k, Q
結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

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wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
mt7344 + 3 Good answer!

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4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...% M% J- n+ X6 [* j0 z. ~4 Q' U
我看到的fuse 很少有用poly fuse% w7 Z5 O1 n1 s' ?
通常是用metal fuse..." [1 t/ M7 t) X2 h4 P
我以前看過有使用poly fuse
! E8 s; E& q; J7 |# E3 }9 v1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)
! t8 c3 o4 i5 E( O* \0 c4 O- c大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷
$ X; I, a5 A# Y0 T有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)2 U/ f5 ^6 V9 w
發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了
! f* I5 @% q4 I  a才發現到layout 的形狀也是蠻重要的+ O* G& `  }# z  ]
最好要有轉角(電流集中)
! a8 Q' P9 Y0 }+ H# B# j2.fuse 的地方通常會開window7 R2 o6 N# `3 `6 q% K! {1 K3 t
......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???
5 B4 |7 X1 {7 [$ B+ d& H2 L目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........
* r! c! c8 x$ n! C
7 C, o1 H( g. h2 `) h  M3 X以上是實際的經歷,僅共參考

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skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..
9 v) L% G6 ?! v; B2 |' C( E) W3 x5 E! @; O7 B( h9 w/ m
關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...)
9 ~4 ?8 z: D+ n2 g1 H
& S# {0 \$ E1 d0 @8 R# F不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...
! l: y9 Q: }; }3 v( R$ S9 n8 b! {: O+ r- D$ U8 F! y
另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...
9 k+ @/ e+ t& Z9 A; a' U% h4 C/ R; S
不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??1 D& q# j( H4 K' O# ]2 f2 X& F

# i6 A$ t  N  C& o另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )
/ `8 K- {8 [; E- M" a: }1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..4 W) S, d! R- |3 r8 b2 m0 h+ V
- D( g+ Q& S  m
2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

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參與人數 3Chipcoin +5 +3 收起 理由
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

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6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法/ l& _4 x+ v' c% G
   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)
/ g; r+ o! X0 u% c   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確
& P9 J: T8 _9 J; P, Y6 `   但是工程樣品的數據大約 80% .4 j% F% [/ @1 S% y1 @: I8 q: |

  |% x0 E- F- {  _2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷
  K! U- n# }" w   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去  E7 ?3 l0 j2 n4 M$ q

+ k$ g' y+ _" D3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人)
6 a0 ?0 `( a$ V/ F4 f$ @   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....) U/ k# s- \( n- T# C& l: A- K
* t; M1 i% k+ p1 x* N/ y' `
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
% n& f: C! n3 @& l4 H! q   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
3 L3 ~; U- p5 [0 n0 Z' Y   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的) r: t+ {/ `7 V: [% t' O
   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),9 ~0 D& u( e; F7 @/ R8 u: ~
   面積當然省啦.....
" ^* i. Z( f* |$ X) ~8 m' Y   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
6 [  r+ v5 \7 e9 J   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給- ^0 J, g. d# ?+ `8 Y3 r9 r' ?% G; {) t
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

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參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

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7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

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參與人數 2 +8 收起 理由
wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

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8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?7 X# f$ G) I, J% Z
Thanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表
8 f7 ?6 U6 J( {. w5 Q7 ]7 b% }1 F4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考& Y5 o6 K7 R, G( D) w2 P6 g9 r
   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......3 v5 `/ w. w  f: i8 `% q
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
7 H! n( I; r( {) g$ S0 ~   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),
/ S" h) c6 h' m5 j$ `6 O  [   面積當然省啦.....# s( ~4 e$ z' q8 p
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
( j3 {4 T0 o& ]+ w4 U   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給7 q% C. s3 h9 f# x
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看...
" E, }; M0 t) \6 h3 e

8 u: w( g6 t. Z- u6 u
+ M) h2 ~! j+ K3 H$ T6 z( a! j看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法...3 z- I  C+ K) C5 R4 p
嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心# q  L4 `+ }8 f$ e0 k. F) B
水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..)/ ?9 F+ P# T6 f, ]6 B8 g
* c# H* J" Q9 D9 c' x% n: j
不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...+ ]6 x" |2 v' E3 x3 L( |9 N
手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...! E; s+ C0 `$ R$ e
呵呵...
( H/ r( O, J2 h9 e9 f4 \, g4 V2 p9 G7 K" t( y6 F
順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目8 K  m& N4 x0 w, [
就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手 + r$ L8 ]4 ]- v4 s
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?: Y4 ?5 I9 O% y, I
謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表
1 E, Y" U+ }4 m5 g1 W& v: U請問 各位高手 6 p9 X! z5 C2 m- d/ p5 U
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?( J$ w- y1 c0 |% W- |3 z. w! D  g
謝謝

" I1 J  R6 a+ i* z
$ s4 ?: n" ~! _; M* z9 @您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號
6 y: e* n  b* g7 A! k9 |% S又可以用來 trim fuse??; ]5 }8 q0 ?; h4 v8 u

6 Y' h* [$ O  t' {# |0 Q如果是後者應該是不行的吧....
, J. D7 H2 p7 x6 N% a% o如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的/ n$ N, ~& b. Z' ]  P0 {% r! ]
電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...; I( d* K- I9 l7 h
: S7 T. }8 ~7 G% u0 p& i
不知道是否有回答您的問題.......

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12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!
  I5 P  e* e8 p1 }5 {最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言..... ! Y* z6 m8 J3 H! h) F" W
不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?  E; ?8 ^, w7 f
先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題
2 T1 G; q* F, G" y6 S- d" g) `4 y- h9 e5 H% B
我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的
7 y7 e$ ~' o6 n; d4 l* H% k/ x
' {' x. e- W. G( B7 |5 I& C也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的9 W# X, O  [$ ?
. h! W% y  o6 O( H3 x
[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),
  h0 b0 O7 S3 k' H; S還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1
) c7 |- o& y& t  c* m0 K  C4 m- F% d8 c7 R+ B' u8 ~9 ^

. w% V- i% {1 \    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777
1 F/ M+ Y! C2 h. o: a, G
: H& M  U- \4 |# t: s& @
* n. @# s! R3 d) w0 ~  |    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM0 ~6 r! k: B6 H# T
poly fuse ...
0 z  @" W5 c% b我看到的fuse 很少有用poly fuse
+ l; r4 x4 A! `! Z% s1 J* W4 o通常是用metal fuse...

/ H# @" O  {9 r
& o% g+ }2 {0 z3 D# L: L# Q8 ^3 I8 e* |
很有用的經驗, 感謝分享..
; j: y4 r1 g8 b
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!
8 z" L* N' S2 A3 k/ ^- Q. W
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