逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
9 ?2 p5 l: N, l# o3 d(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
, e9 M3 z* g* G" T" u5 x( v& s$ k地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
  K7 E' W1 C8 G6 ~0 X) H( [* o         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
& j% H) L- P: u" s# H         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
. D; r* [6 z3 j! w/ N) E7 }% [         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
% O- v' w: D- S% I) u; b: `& G* Y+ X         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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7 t6 w* i/ ^; L# G# b0 C主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
+ o# j6 E3 U$ S* B& N/ N. ]洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
+ w3 e' b! {% \. c  i時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
( B; ~( j" ?1 O/ a$ J( E- Platform noise effect
$ s- e% l& p) z- Noise measurement procedure
* d& b1 v& F% H3. EMC之原理分析與設計技術簡介
9 ~! r5 n8 O. D$ Z- c  E- Filtering
3 I. P4 U5 }1 G0 l- Shielding
- PCB Layout
8 j; O* I+ Z3 y9 m5 X8 }0 S/ i) \9 N: t4. 電源完整性(PI)之分析與設計
# K5 B, c" {* I" B* a; Z- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
  Z5 @+ g  g2 D: p; x) T- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems

) l: H8 [) j1 }0 `& G4 i
) A0 x, h1 I3 `97年11月04日 (星期二)

5 Q. f7 a( s4 B0 ]6 p9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
3 F3 ?- o/ L/ \4 v1 A1 t3 N/ e內容包含:
電磁模擬範例分析
+ y. m& K* m* N6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
6 C. h2 `; O$ q•        MP Modeling and Simulation
- Z: X# {; c- G# u7 |2 x•        TEM Cell Modeling and Simulation
) Z6 y; O  @1 s" I( V) b$ g- General Noise Characteristics
  {- R- s, ]: @2 w- Power Noise Study
, K6 l) O; J& g2 ?8 o: T! V4 K/ T- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
! Y9 S. b& e2 @' R�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
, l, S! ^% l) H- t5 |  n; q5 A7. Trend of EMC issues on chip-level
7 ]' F& G6 P$ V9 E& b8. EMC design trend for chip-level
- p. ]: u" `. G, |1 ?& l97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
/ t$ _  `. F# A9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
7 ^: v) \9 b$ C+ ^( V6 M•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
: X# }1 O" g# _( X3 }•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
, V* Z( y# e1 ~" U5 n+ K0 C 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
: S" j. \0 V$ O7 K6 X" j, s回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

5 |" k: r, k5 D3 L$ g) w: V& o- D1 _" e至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

; `- K6 d; e4 t9 o
$ T) \# \- {, z- V, S好方法
) D0 Q* S7 y; m* E! E1 k, _
& o, w8 |4 y( j/ v& _+ P可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？

) M' C5 a+ S$ X0 |9 r: F1． 上升時間和信號完整性
6 Z, o: z5 r, U' j2 B* |" f  K9 `2． 傳輸線的種類
- H2 h  g3 D1 C  _/ Z3． 反射產生原因
4 a- J- \3 r! m( `+ t4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
# i4 U& T4 C' N' f6． 如何消除串擾
0 D0 z: ?) A0 `3 J; D/ g; a7． 電源/地噪音的種類
9 c$ c: N6 k+ c% \% n; K) `# \8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
7 O5 V2 \# U  F10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！