|
成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
/ E" ^* S9 h8 Y4 r+ J. M- R愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能7 m: S4 d! g5 V' n- n
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
( F4 L* e# }9 z乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
! t$ Y+ W, U# r# x- B4 W% q1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
# R/ X' D# C4 a4 q( f$ `0 {2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
7 `/ h W2 f9 P% ~4 E3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.6 Q9 P4 }0 h9 @/ `9 X
' f/ f- D: ~$ i' W+ |
換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,! n( H2 \2 ?% y* P, o' o$ d+ ~
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及
! d B4 ^) K2 }, B/ x1 _高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.1 d7 N: c: ^& e) ^2 q& U
: q0 B. S7 d9 d& v
另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
% I$ m) Q# E0 C Q4 k9 F7 W8 a及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數) a* M9 K. k) T, a8 H }% w
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
! E) t- e9 G7 E! O: I3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
) b: w2 N+ @) l5 H6 P5 f; b/ b8 H2 J- z7 Q+ A
愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
0 G0 d. N. X" ]/ ~9 D彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
評分
-
查看全部評分
|