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20萬元RMB尋求 大型積體電路老煉測試插座開發等
技術需求一:0 W, R# f, A1 O
1、需求名稱:大型積體電路老煉測試插座開發) l/ _6 k0 c' d' m
2、技術指標:
# L5 o/ j0 B' W1 @1 V/ Q7 p; T; v(1)解決≤0.5mm節距的產品設計、模具設計與製造難題;
! ~+ ]# Z5 q2 x1 e: m0 o+ t(2)解決≤0.5mm解決的成型工藝問題;( _" s7 u# l( a5 e2 d- K
(3)測試老煉條件:-55℃~175℃;. `3 W. g+ W, f. X& H; |, F) d
(4)測試耐電壓500V DC;
( N" H/ C# o* b& j, \$ O; {, w(5)測試電流:1A~50A。
- r# [1 x8 E4 }- J! D* T6 u技術需求二:+ z- X. E3 P. @+ f. [1 ~
1、需求名稱:超高頻測試夾具開發
7 p+ D: N! G; u1 |2 b0 U2、技術指標:≥20 GHz,100V DC,常溫測試。
1 s, x7 ^. q. b. q技術需求三:% w- d* E1 f8 O9 X( y2 W! \
1、需求名稱:鈹青銅熱處理技術0 j% X( e. }9 G1 x* `
2、 技術指標:
! u: D% I3 H8 ^(1)批次處理結果無差異;
4 x% `8 T4 H$ q. n(2)10000次機械壽命後接觸件不變形,無裂紋產生,壽命後接觸電阻不超過初始值10mΩ。
% C. H: Y" W+ {; D9 B1 p5 H8 w. A! O, l
合作面議。能者與意者請email研發簡歷與chip123聯絡。 |
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