惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案

chip123

【2009年 7 月 14日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA正於今年7月14至16日的SEMICON WEST展覽中展出。

6 s7 o- M+ m1 n2 w$ H) U惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統，是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統，不僅具備可擴充性，更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出，V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。

隨著DRAM密度日漸成長，晶圓測試也面臨更高的挑戰，需要更強的並行測試能力，測試頻率和元件冗餘電路的複雜程度也逐漸提升。這也為冗餘分析帶來了前所未有的大量資料。因此，在擷取失敗資料並有效完成冗餘分析的過程中，加強儲存空間和效能的需求因應而生。
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為滿足業界的眾多需求，惠瑞捷開發了SmartRA，藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器，企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能，無須擴充測試機台容量。另外，SmartRA採用開放性軟體架構，客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發，可縮短上市時程並降低測試成本。

惠瑞捷記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示：「不同於其他可執行冗餘分析的測試系統，新增了SmartRA技術的V6000系統無須另外添購替代硬體，即能維持產出量與良率。SmartRA的獨特架構與領先業界的產出能力，能讓DRAM製造商以最低成本持續擴充升級，達到足夠效能以實現最佳良率。」
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' I6 C2 L% C8 H# n; Z$ z0 k& _SmartRA的隱藏式冗餘分析
SmartRA可解決複雜冗餘分析處理所帶來的挑戰，包括暴露冗餘分析時間導致的產出量下降，或是冗餘分析逾時造成的良率損失。新增了SmartRA的V6000測試系統隱藏冗餘分析時間，即使改變測試需求、切換測試模式也不會造成中斷，進而達到提升產出量與良率的效能。

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惠瑞捷推出V101測試系統進軍消費性IC與低價MCU市場

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- O6 ?+ X# Y- o' E3 ~文/Chip123 編輯部 姚嘉洋

! g! Q3 h& x# h: S' S【2009年 7 月23 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日推出V101測試系統。這套全新的100 MHz tester-on-boardTM系統擁有低成本與零佔用空間等優勢，適用於最講求成本效益的積體電路 (ICs) 與微控制器 (MCUs) 製程，執行晶圓測試 (Wafer Sort) 及終程測試 (Final Test)。V101不僅能滿足極低的測試成本要求，並可因應緊湊的產品上市時程。 V101測試系統已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對外展示。

         惠瑞捷台灣區總經理陳瑞銘表示：「惠瑞捷之前所推出的V93000，在高階測試市場上普遍受到客戶的青睞，此次推出V101，剛好可以滿足客戶在中階到低階產品的測試需求。」

而惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士則指出：「V101成功地將惠瑞捷備受業界肯定的測試技術首度導入此領域。為因應極為注重成本效益的市場，V101的簡易構造、低故障設計及自我診斷的功能，方便客戶自行安裝與自我維護，足以創造最高的整體價值。」
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V101測試系統最高可運作達100 MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，為廣泛應用於低階行動通訊與消費性產品的IC與MCU，執行高效率且具經濟效益的測試工作。

. m) P1 B, ?3 s% j  ?% t, cV101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護。
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魏津進一步補充：「V101測試系統的簡易特性能帶給客戶具成本效益且易於操作等前所未有的價值。有鑑於此，許多未曾採納惠瑞捷解決方案的廠商均已表達採用此系統的意願，其中包括有多種元件測試需求的廠商或測試實驗室，以及極為講求成本效益的MCU製造商。」他更指出：「台灣IC設計廠商，在消費性電子的領域上，具有舉足輕重的地位，加上產品生命週期短、平均利潤不高等因素，台灣廠商必須要有低價但卻又是高技術集成的平台來滿足測試需求，V101的推出，剛好與台灣的廠商之需求不謀而合。」

  w+ g- f4 Y  ~- q# c# T) lTester-on-Board架構
6 E5 U! g; I/ n- V  ~V101的數位測試儀器架構內建數位與直流裝置，突破性地兼顧了測試效能與低成本兩項優勢。這套架構也讓V101的產出量可隨用戶需求彈性地擴充。

/ Z& h- A' ?4 H4 i) a低成本MCU測試的最佳解決方案
. W" K' |' f% j0 y* T2 ?+ lV101是特地設計來有效率地測試4、8與16位元的MCU與其他低接腳數 (pin count) 的低階IC元件。這套數位儀器最高能以8個裝置電源供應器 (DPS，device power supplies) 達到100 MHz的測試工作頻率；同時提供60M的深度向量記憶體 (Vector Memory) 以及8M的數位擷取儲存記憶體 (Capture Memory)，因應快速的元件生命週期並進行修正，可降低雜訊、提升測試準確度與良率。內建的多功能直流測量單位 (MMUs，Multi-DC Measurement Units) 可免除額外的類比卡 (analog cards) ，直接進行嵌入的類比/數位轉換器 (ADC)測試，達到降低成本的目標。

晶圓測試最佳解決方案
V101是唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，無須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面，因而能大幅節省成本。V101的設計亦有助於提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity) 以及簡化生產設定工作。
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易於操作的軟體
V101採用惠瑞捷屢獲獎項肯定、易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

" j3 }6 k7 z- [# I. Y  d多元化應用
) g. ^& Y) t& J2 ^V101針對兼具高效能與經濟效益的生產測試而設計，測試範圍涵蓋用途廣泛的多種低成本IC元件：
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-4/8/16位元MCU
& O( O" [6 P$ Z) S- w8 s$ n6 v: r" H-顯示器驅動控制器
; N; u* t- ?8 C-介面週邊應用
+ W1 i; f% j, p8 ~-一般用途的特殊應用積體電路 (ASIC)
-嵌入式記憶體
% ^- V& S0 z, P1 O: f" l-嵌入式類比數位轉換器

價格與通路
: i4 O" a$ Y6 M0 _9 P7 J4 aV101測試系統基本配備512個I/O通道。惠瑞捷依接腳數計價的方式，能讓客戶依據實際所需，以合理的價格調整產品產出量。

! I; f* z& ^: C[ 本帖最後由 heavy91 於 2009-7-23 05:05 PM 編輯 ]

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2009年唯一獲獎的測試設備供應商
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【2009年12月28日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布首次榮獲VLSI Research的年度客戶滿意度評選五顆星最高評價。同時，惠瑞捷也是本年度13家獲獎企業中唯一入榜的測試設備製造商。

VLSI Research的年度調查是根據企業的擁有成本、商務表現品質、產品性能、客戶服務、技術領導地位及企業承諾等六大面向進行評選。其評選結果是依據超過35,000份來自全球半導體製造設備使用者的問卷調查，這些受訪者同時代表了全球95%的半導體生產量。在VLSI Research 2009年針對晶片製造設備商的客戶滿意度調查中，惠瑞捷在其中五大面向均勇奪五顆星的最高評價。

VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson表示：「惠瑞捷不僅被公認為測試領域的頂尖廠商，今年更一舉摘下客戶滿意度獎的五顆星最高評價，成為唯一獲此殊榮的測試設備製造商。惠瑞捷具備出色的產品設計能力，在各類半導體測試設備上均穩居技術領導地位，其售後服務更能協助客戶成功達成目標，他們的獲獎可謂實至名歸。」

3 {- Q  B" j0 E: I3 v  D惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「我們非常榮幸能獲得此項殊榮，肯定惠瑞捷在提供一流設備與客戶服務上的持續努力。這也將成為惠瑞捷持續精進的動力，在來年的表現能更上一層樓。」

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VLSI Research Inc.簡介

VLSI Research Inc. 是業界盛名針對高科技半導體製造產業的技術、商業和經濟等層面，從事市場研究與經濟分析的公司，素以無可比擬的準確度、市場研究方法創新、以及精準掌握半導體製造產業的快速脈動著稱。VLSI Research有關半導體製造的資料庫廣為業界以及政府部門採用。公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及這些產業與其相關科技產業中，重要次系統與零組件的市場分析。VLSI Research創立於1976年。
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關於本評選
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( M7 o- a7 F. k3 TVLSI Research每年舉辦的「半導體製造設備商客戶滿意度調查」是半導體製造商公開對供應商表達意見的唯一機會。設備製造商需要一份明確的評量基準以衡量企業表現。由於設備製造商的成功不再全然取決於技術能力或上市時程，企業也並非單靠市佔率來評斷其優劣，因此客戶滿意度已成為評量企業表現的關鍵因素。企業必須充分掌握客戶評價才能精進市場地位。各領域的前十大廠商與最佳廠商排名均旨在表揚最受客戶好評的供應商。

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【2010年2月9日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷宣布，系統單晶片 (SOC) 設計代工領導廠商創意電子 (Global Unichip Corp.) 已採用惠瑞捷V101測試系統。V101為惠瑞捷新推出的100 MHz測試系統，擁有低成本與零佔用空間等優勢，可協助創意電子進行更大量的平行測試並提升產出量，其易於操作的特性也將使軟體與測試程式的開發工作更具成本效益。
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創意電子副總經理鄒覺倫表示：「身為IC設計代工的領導廠商，創意電子設計的SOC往往極為複雜，有數百萬個閘極以及高速介面，而我們一直倚賴惠瑞捷的V93000機台來完成複雜的SOC測試工作。身為惠瑞捷的長期客戶，我們很高興能採用新推出的V101測試系統，這套系統具備此領域最重視的高效率和易於操作的特性，能讓我們和惠瑞捷一同為顧客創造更高的價值。」

惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「惠瑞捷不斷追求創新的傳統讓我們持續為業界提供最佳的解決方案。根據市場分析數據顯示，有了新推出的V101測試系統，惠瑞捷2010年在SOC的服務市場將可擴增4億美元。我們很高興創意電子肯定V101能創造的整體價值，隨著創意電子在產業下游推動這套測試系統，我們也期待深化彼此的合作關係。」

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符合成本效益至上的最佳解決方案
V101是一套高效率且高經濟效益的測試系統，用來測試各類應用於低階行動通訊和消費性產品的低成本IC元件。V101測試系統最高可運作達100MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，能為極注重成本效益的IC和MCU市場，執行高效率且具經濟效益的測試工作。
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V101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護，其系統架構更能因應客戶的需求調整，彈性增減產出量。
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V101是目前業界唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，因而能大幅節省成本、提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity)，以及簡化晶圓測試時的生產設定工作。

/ b& |+ H" r5 \" J5 \V101採用惠瑞捷備受肯定且易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

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惠瑞捷出貨多套V93000 Port Scale射頻系統協助客戶測試無線通訊用半導體
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6 `* n; L7 t0 h: ^9 S- T【2010年4月19日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前對某長期合作廠商出貨多套 V93000 Port Scale 射頻系統，以協助測試該廠商超低價手機用射頻單晶片 (RF-SOC)。

市場研究機構 iSuppli 指出，全球超低價手機的需求人口數約為16億，其中多數集中在中國與印度等新興國家，這些國家有為數眾多的人口未曾購買過手機。iSuppli並預估，2009至2013年間全球超低價手機市場將成長兩倍，達到2億台的規模。
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( p  t) J% m7 B5 C惠瑞捷股份有限公司業務支援與服務副總裁Pascal Ronde表示：「這家客戶目前已採用多套V93000 Port Scale射頻測試系統，在生產過程中測試RF-SOC裝置。這套V93000測試系統可在不同階段進行測試，並同時兼顧高速測試、準確度與效能，具彈性的平台架構可測試無線電接收器與其他關鍵元件，幫助使用者增加製造產出量。」

射頻晶片為手機、全球定位系統 (GPS)、調諧器等多項應用中的重要元件。射頻裝置市場不斷要求更快的處理速度與更小的尺寸，促使半導體業界整合更多射頻功能，推出可支援GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE、EDVO等多項通訊協定的單一晶片，而要穩定地量產這些晶片，就要仰賴先進的IC測試性能。

惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統可利用真正四組元件同測能力與高效率的多元平行測試能力，以最小成本測試多達48個射頻測試埠。從低整合度射頻收發器的高產能測試，到先進元件 (內含射頻混合訊號、數位、電源管理、嵌入式或堆疊式記憶體) 的測試，這套系統皆可提供經濟有效的射頻測試應用。

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【2010年 6 月 7 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前宣布出貨第250套V93000 Port Scale射頻測試系統。此項里程碑證明V93000自2007年6月上市以來備受市場肯定，迅速獲得整合元件製造商 (IDM)、IC設計公司及其封測代工 (OSAT) 夥伴的廣泛採用。業界領導廠商已採用此機台測試多種射頻元件，包括2G、3G與4G行動通訊、藍芽、無線區域網路 (WLAN)、WiMAX以及全球定位系統 (GPS)。
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1 K$ ]6 v, |8 }! g在目前眾多的消費性電子裝置中，射頻元件扮演著關鍵角色，在產品尺寸、外型與製造成本均持續緊縮的趨勢之下，半導體製造商積極地將更多的射頻功能整合至可支援多項通訊協定的單晶片上。因此，為了兼顧成本效益與穩定度，以量產測試埠較多且頻寬較大的射頻IC，半導體製造商皆追求具備低成本特性的先進測試效能。

3 n; ~, B& [( ^. `* V; R惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統最多可配置96個射頻測試埠，提供8組元件並行測試，以高效率的多元件並行測試能力，達成高品質且低成本的產出。這套可擴充的測試系統可依據不同的功能與價格定位來配置，滿足每個客戶的特定需求。無論是功率放大器、調諧器、收發器等低整合度裝置，或是整合混合訊號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體的高整合度射頻裝置，皆可由V93000進行測試。此外，V93000的多功能測試架構讓客戶能運用單一機台測試所有的射頻與系統單晶片 (SoC) 產品線，無需為不同應用的產品設置多個測試平台。

惠瑞捷SOC測試事業部副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「Port Scale 射頻系統可讓客戶依據不同的射頻元件區隔應用進行彈性調整，範圍涵蓋高度整合、低度整合及介於其中的各種元件。這次在出貨量上達成的記錄再次證明V93000機台具備前所未有的強大效能，能為多元化的各類應用提供最具成本效益的解決方案，幫助客戶極大化產能利用率，實現最高的投資報酬率。」

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【2010年 6 月 10 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調查的兩個獎項，分別是「自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名」，以及「全球十大最佳半導體製造設備大型供應商」。VLSI Research為專注於半導體產業的市場研究與分析公司。
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在自動化測試設備供應商的客戶滿意度調查中，整合設備製造商, 晶圓廠，與測試廠均給了惠瑞捷第一的評分。在最佳半導體製造設備大型供應商的調查中，儘管範圍更廣、市場區隔也不同，惠瑞捷仍在這項調查中勇奪第三。
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- |5 ]# d  g/ O0 l這使得惠瑞捷締造了連續五年名列VLSI Research十大最佳測試設備供應商；也是連續兩年在此獎項中奪冠的ATE公司。

* I4 }) h3 g" b; r+ X4 k惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「這兩個獎項顯現我們公司整體對提供最佳的晶片測試的支持與承諾。非常榮幸我們的努力持續的受到客戶認同與最高的評價。」

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VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷公司在客戶滿意度調查的十三個項目中的十一個名列第一。沒有任何其他ATE公司曾經得到今年惠瑞捷這麼高的分數。我們恭賀惠瑞捷在客戶滿意，以及追求卓越上所做的努力，而得到客戶最高的肯定。」

, S2 d8 m. V9 d& l: W* Z0 M" sVLSI Research的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳排名是用來獎勵被客戶評分高的供應商。2010年的評比結果是依據2010年初所做的問卷調查，該調查全球總共發出了34,238份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司代表了全球半導體生產量的95%。

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) D9 \* _! b1 M, m9 b: A' Y/ @VLSI Research Inc. 是業界知名針對奈米與相關科技的技術、商業和經濟等層面，從事市場研究與經濟分析的公司。素以無可比擬的準確度、市場研究方法創新、以及精準掌握半導體製造產業的快速脈動著稱。VLSI Research有關半導體製造的資料庫廣為業界以及政府部門採用。公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及這些產業與其相關科技產業中，重要次系統與零組件的市場分析。VLSI Research創立於1976年。VLSI Research網站為：www.vlsiresearch.com。

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惠瑞捷V101平台新增混合訊號測試功能 V101平台測試範圍可涵蓋混合訊號晶片的終程測試

4 n( u" R7 o$ c/ }" q/ h【2010年6月14日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷宣布，惠瑞捷V101測試平台新增可測試混合訊號半導體元件的功能。V101是一款多功能的測試平台，專為大量測試且注重成本效益的元件而設計，可用於晶圓測試 (Wafer Sort) 與終程測試 (Final Test) 等製程。V101平台新增混合訊號測試功能後，將可用於測試具備聲音與影像訊號的元件。
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新增加的混合訊號測試功能僅需透過一套隨插即用的模組，便可簡單快速地安裝至V101測試平台，用於測試汽車、通訊、資料處理以及各種消費性影音產品等裝置中所需的混合裝置。類元件的製程極為繁複，但是體積超小，號稱「零佔用空間」的V101測試平台能夠以符合成本效益的方式，測試微控制器與其他低接腳數、低成本的IC。

惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士表示：「在目前電子產品對成本效益錙銖必較的要求下，半導體設計與製造業者皆面臨艱鉅的挑戰，除了致力於降低測試成本，還要縮短量產與上市時程。現在惠瑞捷V101測試系統新增混合訊號測試功能，適時解決了混合訊號元件市場上的迫切需求。」

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惠瑞捷V101測試系統最高可運作達100 MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，且能執行影音頻段混合訊號測試。新增加的混合訊號測試功能讓V101測試平台更為彈性，能夠處理多元化的嵌入式零件技術及各類微處理器與IC，執行符合經濟效益的測試工作。

V101測試平台採用惠瑞捷模組化的Tester-on-BoardTM 架構，精簡化的硬體、架構與系統支援讓V101具備更高的成本效益。惠瑞捷的Tester-on-BoardTM 架構已獲得專利，可將數位元件、裝置電源供應與直流裝置內建於測試板，根據數位接腳數進行測試。惠瑞捷V101測試平台採用標準規格的零組件，能確保系統可靠性並易於進行維護和安裝，系統架構則適用於包含混合訊號在內的多種半導體元件，可執行具成本效益的晶圓測試與終程測試。
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7 C( Q. `, L( D# J: P+ f9 k& ZV101測試平台採用惠瑞捷經製程驗證且備受肯定的StylusTM作業系統軟體，其STIL標準測試程式讓使用者易於操作，不僅讓程式開發更快速有效率，還能簡化跨程式的測試轉換作業，大幅縮短開發時程。

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【2010年 6 月 10 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調查的兩個獎項，分別是「自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名」，以及「全球十大最佳半導體製造設備大型供應商」。VLSI Research為專注於半導體產業的市場研究與分析公司。

在自動化測試設備供應商的客戶滿意度調查中，整合設備製造商, 晶圓廠，與測試廠均給了惠瑞捷第一的評分。在最佳半導體製造設備大型供應商的調查中，儘管範圍更廣、市場區隔也不同，惠瑞捷仍在這項調查中勇奪第三。這使得惠瑞捷締造了連續五年名列VLSI Research十大最佳測試設備供應商；也是連續兩年在此獎項中奪冠的ATE公司。
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5 P! E! I9 a* v/ I3 O惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「這兩個獎項顯現我們公司整體對提供最佳的晶片測試的支持與承諾。非常榮幸我們的努力持續的受到客戶認同與最高的評價。」

VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷公司在客戶滿意度調查的十三個項目中的十一個名列第一。沒有任何其他ATE公司曾經得到今年惠瑞捷這麼高的分數。我們恭賀惠瑞捷在客戶滿意，以及追求卓越上所做的努力，而得到客戶最高的肯定。」

1 d* Z3 `# w. n" a! e3 IVLSI Research的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳排名是用來獎勵被客戶評分高的供應商。2010年的評比結果是依據2010年初所做的問卷調查，該調查全球總共發出了34,238份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司代表了全球半導體生產量的95%。

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惠瑞捷為其晶圓級晶片尺度封裝(WLCSP)市場的V93000 平台新增 Direct-Probe™ 解決方案 新功能在降低成本的同時也縮短了測試週期時間

) \+ }/ D( c+ V) T8 R" e【2010年6月30日，台北訊】首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY) 在其經生產驗證的 V93000 平台中新增了 Direct-Probe™ 解決方案，從而提升了該平台的擴充性。這款針對數位、混合信號和無線通訊積體電路 (Wireless Communication IC) 的高性能針測(probe test)產品在進行量產、多點針測時表現出最高的信號完整性。

新的 Direct-Probe 創新型射頻 (RF) 解決方案降低了射頻設備、高接腳數(high-pin-count)數位設備以及複雜的混合信號設備的測試成本，使全球半導體市場能夠快速向高性能針測和晶圓級晶片尺度封裝 (WLCSP)轉型。惠瑞捷的 V93000 平臺在增加 Direct-Probe 射頻解決方案後消除了晶圓和測試機之間的傳統機構介面，從而減少了訊號路徑(signal-path)連接點的長度和數量，顯著提高了射頻設備測試的信號完整性。

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具有 Direct-Probe 射頻解決方案的 V93000 在設計時可使用適合晶圓探針和終程測試(final test)的單測試載板 (single-load board)，從而縮短 IC 從開發到生產的時間，使探針和終程測試間的相關工作量降至最低，並實現強大的多點測試能力。惠瑞捷的 Direct-Probe 射頻功能提供應用使用上最大面積的元件區，使一個44000平方毫米的區域保持平滑，平面水平偏差僅為+1毫米。

此外，V93000 Direct-Probe 解決方案使整個平台能夠相容所有規格的測試機，同時 V93000可擴展架構還提供多功能全方位射頻半導體設備的測試。

惠瑞捷SOC測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示：“隨著晶圓級晶片尺度封裝技術的快速發展，目前單一封裝的元件測試與處理的晶圓探針踏入多接點(multi-site)、非單一並行的測試。從本質上說，這意味著元件封裝正逐漸成為晶圓處理製程的最後一步，使得探針可以作封裝完成後之最終測試。為迎合這一趨勢，我們認為，我們新的 Direct-Probe 射頻解決方案提供了業界最高的晶圓測試性能，將測試成本降至最低，同時可以最大限度地提高包括藍芽 (Bluetooth) 產品、全球定位系統(GPS)和無線局域網 (WLAN)無線設備的各種 IC 的測試資源。”
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4 X4 I6 K1 l- }$ J7 ?8 t6 LWagner 接著說：“首批裝有惠瑞捷新 Direct-Probe 射頻解決方案的V93000 系統將於本月開始發貨，預計年底前將在客戶端上線。”

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惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 推出用於先進DRAM 測試的單次觸壓、全晶圓探針
業界最低壓力的探針卡保護受測元件免受潛在的破壞性壓力
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6 S+ ^' D) E- w9 N9 z【2010年7月21日，台北訊】領先的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）旗下全資子公司 Touchdown Technologies 今天推出了其 1Td300 全晶圓探針卡，這是該公司首款用於先進 DRAM 記憶體元件單次觸壓、高容量測試的探針卡。該產品能夠對 300 mm或200 mm 晶圓進行相當高的並行測試(highly parallel testing)。
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具備有每探針只需要2g壓力就能夠測試整個300 mm晶圓——堪稱業界最低的探針壓力，所需壓力不到市面上同類產品的一半——1Td300 探針卡提供了雙重優勢，不僅能夠降低待測晶圓和整個測試設備的壓力，同時更高的接腳數拓展了半導體的測試藍圖。《國際半導體技術藍圖》 (ITRS) 預計，到2011年，一般型DRAM 的多晶片並行測試將從2010年測試的512個晶片增加到768個。這相當於目前 DRAM 超過50,000的接腳數，隨著晶片尺寸繼續變小逐漸攀升至100,000。
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+ Z7 D5 x! k- m# A! n: L0 `# y$ n: [) B惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 總裁 Patrick Flynn 表示：“由於像 DDR3 記憶體這樣的先進半導體接腳數逐漸增加，必須藉由不斷提高並行性(parallelism)水準才能降低測試成本。透過我們新推出的 1Td300 探針卡，我們已經開發出具有超低壓力的可靠、單次觸壓測試解決方案，能夠在實現所需的平面度和摩擦性能的同時不損害待測元件。”

Touchdown Technologies 的新探針卡使用獲得專利的全晶圓架構和基於MEMS 的ACCU-TORQ™ 彎曲探針進行非常平滑的單次觸壓測試。Touchdown Technologies 繼去年為 NAND 和 NOR 快閃記憶體推出首款1Td300 單次觸壓探針卡之後推出了該產品。

惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 簡介
創立於2004年，Touchdown Technologies 致力於設計、製造和支援用於測試半導體晶圓和晶片的先進 MEMS 探卡。2009年，Touchdown Technologies 成為領先的半導體測試設備公司惠瑞捷旗下全資子公司。作為惠瑞捷旗下公司，Touchdown Technologies 致力於通過為高平行性探卡提供創新的可升級技術，以降低測試成本。該公司完全有能力滿足所有存儲應用需求，包括 DRAM、NAND、NOR 和 Serial Flash。有關 Touchdown Technologies 更多詳情，可查詢： www.tdtech.com網站。

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惠瑞捷全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案為 DDR3、DDR4和更高級的記憶體提供了低廉的測試成本
平價的升級提供了未來三代設備多代發展路徑
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【2010年7月21日，台北訊】惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案，進一步拓展V93000 HSM 平台在以DDR3世代為主的記憶體 IC 和未來更高級記憶體的測試能力。V93000 HSM3G 獨特的優勢在於其未來的可升級性，能夠為未来的三代 DDR 記憶體提供資料傳輸速度高達6.8 Gbps且價格低廉的測試服務，從而前所未有地長期節約測試成本。
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$ [) `* h/ K9 B0 r8 c1 ]  v: H" q惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“記憶體製造商一直在尋找一種既能滿足其生產和功能需求又能提供比一個世代產品壽命更長、投資價值更高的經濟型 ATE 解決方案。我們可升級的V93000 HSM 測試平台提供前所未有的使用壽命，能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 至少三代產品提供卓越的投資報酬。這些測試的經濟效益，在業界其它產品均不可及。”
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1 o2 X+ A6 ?- Z- t6 s  h- K& P( qV93000 HSM3G 已俱備未來的速度和功能性，提供了高速記憶體測試市場上最完整的特性。其可程式設計的、全速的每引腳 APG 能力加上能夠產生針對資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘檢查碼 (CRC)所需的相關測試資料，對於進階的 DDR4 記憶體技術特性能夠提供足夠的測試需求，以確保較高的測試品質和產量。

得益於其每引腳的記憶體自動測試設備處理能力，V93000 HSM3G 可以節約高達20%的測試時間。它可以提供全並行模式的功能測試 (parallel pattern execution)、全並行的DC特性檢測以及眼圖的測量(eye-width measurements)，從而提供了相當高的多工效率。
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2 S( q/ m5 D9 u, w& ~0 w5 VV93000 HSM3G 可以提供實質 2.9 Gbps 的資料傳輸速度以及 完善的256-site DDR3並行測試(parallel testing)，在整個所需的測試速度範圍內不會增加任何不必要的測試時間，也不會影響準確性、功能性、測試範圍以及產量。歸功於可提供充裕的實質速度(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 各種速度分級需求以及高級遊戲機DDR3 和前兩個 DDR4 量產的速度等級。V93000 平台架構對於未來更高速的產品測試需求，確保將來能夠升級的能力。

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惠瑞捷在韓國客戶的生產線上安裝首款具有每接腳8 Gbps高速記憶體測試卡V93000測試機

【2010年7月21日，台北訊】首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY) 在韓國一家不具名客戶的生產設備內安裝並驗證其首款可生產的V93000 HSM6800系統。這套新系統是唯一的一款為當今運行速度超過每接腳4 Gbps GDDR5超快記憶體積體電路 (IC)的全速高良率測試解決方案。與當今市場上的其它超高速記憶體測試系統相比，它具有重大的產能優勢。

( H6 M7 L0 O2 z4 l; [市場研究公司 iSuppli Corp. 表示，約有90%的 GDDR5產品均產自韓國。藉由以實際速度測試這些高速記憶體，並結合功能齊全的特性，惠瑞捷的 V93000 HSM6800 讓客戶能應對高速發展的半導體市場，例如能生成更逼真、更高解析度圖像的高級顯示卡。
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# n! c6 y4 j% @& j4 ^) ?惠瑞捷新的測試機已安裝用於客戶最新設計晶片的工程和生產測試。該系統上市後還將能用於生產廠的 IC 樣品和大批量產測試。

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惠瑞捷系統級晶片 (SOC) 測試解決方案副總裁 Hans-Juergen Wagner 說：“我們的 V93000 HSM6800系統每接腳具有8 Gbps 的能力，使用壽命更長，適用於多世代記憶體元件(multi-generation memory devices)，使其具有最佳良率。在驗證時，這款測試機的良率和產出均高於與之相競爭的系統，從而能為客戶提供更好的投資回報 (ROI)。”
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惠瑞捷 V93000 HSM6800 系統的一系列豐富特性支援針對 GDDR5 眾多先進功能的測試，包括位址匯流排倒置 (ABI)、資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘碼檢查 (CRC)。這些應用預計也將適用於 DDR4。此外，該測試機的靈活 APG 架構能測試一般8-bit資料框(frame)的記憶體，還能擴展測試未來具10-bit資料框的記憶體世代。憑藉其可擴充設計，惠瑞捷 V93000 HSM 系列成為能滿足所有上市高速記憶體存儲技術測試所需的性能、功能和經濟要求的唯一平臺。

5 d. M$ Z- B4 Q+ \  ], p- Y除了這款新測試機，該客戶也安裝了惠瑞捷上一代 V93000 HSM3600 系統。這系統4年來一直用於測試高速記憶體 IC。

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惠瑞捷於京元電子安裝多台 V93000 SOC 測試機台
* O2 f8 `5 C* M台灣客戶選擇惠瑞捷作為進入 RF SOC 市場的首選設備廠商

3 I1 R3 V2 l) g3 K3 r* e【2010年9月2日，台北訊】–領先的半導體測試公司惠瑞捷 (NASDAQ: VRGY)的長期客戶， 全球最大的半導體測試代工廠之一的京元電子股份有限公司 (以下簡稱京元電子)，已選擇惠瑞捷作為其進入 RF SOC (射頻系統單晶片) 元件市場的首選測試設備合作廠商。
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" }2 q  L# f" k3 C9 O京元電子已訂購並安裝多台裝有 Pin-Scale數位信號量測模組(digital cards)的惠瑞捷 V93000 SOC 測試機台，用於測試針對射頻式行動運算應用 (包括消費性電子) 的高容量半導體。惠瑞捷的 V93000 Port Scale 射頻系統有高效率的多測試埠(Multi-site) 平行測試能力，此外，產出率為同級最佳，且測試成本低。除了支援京元電子對於射頻半導體測試的初期需求外，這些系統彈性空間大，也能加以調整以測試繪圖元件與混合訊號 IC。

訂單上的每個射頻測試機台均配備惠瑞捷的 Pin-Scale 數位與類比卡，這些晶片卡能夠讓每個針腳都有因應測試需求改變而調整的彈性，並能快速設定，因此讓惠瑞捷的測試台有最佳的速度與精準度。另外每個針腳都提供單端與差動 I/O 測試功能，適合測試各種介面，並能夠在測試中逐一針腳的將設備與元件進行比對，因此可獲得最佳的設備使用率與最低的測試成本。測試機台能夠隨著元件需求的改變，以符合經濟效益的方式額外新增高速的針腳。

& q% z* I4 _- d% J9 W惠瑞捷的 V93000 平台現已安裝完成，是在京元電子裡唯一具有完整使用率的測試設備。每部測試機台皆使用惠瑞捷的 Pin-Scale 卡，可針對特定類型的 IC 進行微調，讓京元電子能夠針對各式各樣的半導體進行多樣性的測試，可測試的半導體範圍從低整合度的元件，如功率放大器、微調器、收發器，到高整合度的射頻元件，像是整合了混合訊號、數位、電源管理與嵌入式或堆疊式記憶體的射頻元件。