|
2 h: }+ e- x5 I6 D( l
03.積體電路晶片在微光顯微鏡分析下的影像2 o$ Q' p6 g$ g7 Y* F
9 G# z5 \' Q4 c2 G
「南台科大材料與故障分析中心」投資 3,800 萬元添購高效能聚焦離子束顯微鏡,硬體設備投資超過一億元以上。並整合該校現有的貴重儀器設備,例如:微光顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、掃瞄試電子顯。微鏡、傅立葉遠紅外線分析儀等先進科技設備。8 L( G: D# l; Z1 o/ R" b" W7 O
' G, ?2 C1 C6 E( T
邱裕中教授指出,該中心異於一般業界單純的元件故障分析用途,除可協助業界找出元件故障原因外,並可提出改進方案,及從檢測到問題排除的完整方案。透過產學計畫的模式,該中心將提供南部 IC 及光電產業,優質的材料與元件故障率分析之技術服務。' p1 U3 m; m& t! g
$ S5 u4 s5 v; S% |; f1 E3 ~2 ?
資料來源:Southern Taiwan University http://www.stut.edu.tw/5 g8 b6 j8 A7 T, f8 O& W
' H% V3 w% [( K# G
訊息來源:南台科技大學 |
本帖子中包含更多資源
您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員
x
|