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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心
' u/ k% R( w. _1 j7 \●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
' g7 e$ |6 {3 X4 o, z5 C●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
: r# F2 d% w( U●課程費用:5,000(含稅) & g5 g) B- r: z) Q8 V  W2 Y
●報名截止日期:100/12/01(四)
0 K& e, z2 ^6 J2 s●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
5 U* v) m7 T! o●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 ( H9 }1 q6 s5 _1 g
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
( ~6 @- k' K2 n9 c+ A4 }, v7 |  C' t. P" [
■課程目標
) k1 N7 W& ]5 e! m
9 O+ t* B' s# r* K, U. m% P1 b本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
" a: o1 V$ j, u/ i, L6 ]* H9 ^  v( k! p
■課程大綱
. N' u1 V' \, W9 t第一天:12/08(四)9:00~16:00 . C7 C: [' Z; v% m
專利檢索入門與檢索規畫   _9 B9 T9 D" _" f8 E, B6 M. z
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
/ H. V( @! C! O% c4 h% Z; K3 ^專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
4 V1 L2 T& V4 s3 Y8 C, Z4 p' W/ }3 Q) u2 b& g$ j4 i
第二天:12/09(五) 9:00~16:00
: a5 g1 k0 E1 ]專利分析可提供之情報 ; [7 n% d, b1 P" [
專利地圖試做範例 / F# s3 P/ Z$ Q
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
& k( k0 y0 g+ T% [*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹
3 o* D) A5 Q$ O2 K: P吳俊逸 博士
7 J' W6 O. `- H1 T0 Z在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
  i' O& w" z$ U現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 4 E0 j& _: l5 E! A- q9 ]
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 / V/ C- g4 U. J
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士 + F! O3 r1 i+ y+ U
  {+ J* I4 x5 g) c2 g1 Q: i
專長與經驗: * u4 B' |$ |/ F7 W; r9 s
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
' X5 g9 J5 x' M; D; o6 H 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). 5 l; n* q& b+ x2 k; T4 l. o
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
9 d, V+ f* I' Z+ u5 q$ B 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
, P' ]1 U( Y! z' a% U6 M6 o
# }' G* ?$ t- z  M經歷:
  \: p& {: M0 f: s9 T4 }, w. E0 d. V( M9 h6 t
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 : ]  j" G( d4 j5 i0 C
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
: N; P. o  ?" P  T  @& d# d國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
& \5 c- L4 K1 `$ x! i
. G1 g  a# B9 @+ j為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。# T  e" m! U0 H' S: g& U- E
( p. D/ ?3 h* h% W3 J: j
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
9 I* I$ n" h( c# f2 o( l8 G% W1 [  J9 e* w
訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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