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樓主: sjhor
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[問題求助] e-fuse?

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41#
發表於 2013-9-11 13:39:27 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me ~~~
42#
發表於 2013-10-6 10:11:52 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me
43#
發表於 2014-1-10 16:00:16 | 只看該作者
回復 2# finster
" n3 J2 p9 p4 T2 h- o- {$ Z! [- j' f2 R' U" O

9 ~! ~9 I, U# I3 s  n) n9 \6 J( l" D    感謝分享,最近剛接觸收益良多
44#
發表於 2014-3-4 23:41:51 | 只看該作者
e Fuse 就是FT TRIM 方式 因為 PACKAGE 後BANDGAP 電壓會飄 6mv (paper)   所以如BANDGAP RFE 要準到 1MV - A, o: Q2 C0 W: V" L6 |0 K

# A& ?& D" ?! v6 Z; C  ]  J- S得如此
6 s( l. S, ~+ N4 h9 _# u% X; F- z, _2 e5 H( [
一般 使用 POLY FUSE 燒有RISK是萬一第一次沒燒斷變高阻抗就燒不了8 V' `9 E5 X- h  D- Q/ q
METAL FUSE 當EFUSE 是可以 但是  VANGUARD 本身有IP  有提到如果 每次READ 都留電流會慢慢燒EFUSE
! z. `) s3 r3 n" [" \( @" ]0 T, T- J- u) o; c
一般做法是POWER ON 先READ 後就不再去讀E FUSE 可降低問提
8 H2 F) C9 b; g還有 FUSE燒 on  off  impedance 要有資料; b6 H, }% g6 z6 H% a

" s4 ~8 [9 n' x# [0 c' X, PVANGUARD 有
45#
發表於 2014-3-13 12:48:25 | 只看該作者
感謝各位無私分享, 請問有無efuse SEM照片可分享.謝謝! t6 s0 ^# \  P) X% R

8 e) Y0 R- Y; b; z' V5 l/ |Laser fuse 可用高倍率顯微鏡看到..但願還沒看過efuse的..
46#
發表於 2014-7-23 09:53:18 | 只看該作者
回復 11# emcthomas
$ Q3 S" ?" ^: Y: k( m  Y; p! m# E, U. K1 ^! s( [9 G

, F* ]" B1 ^0 x- G+ A1 Y    OTP工艺太贵了,目前用Poly fuse的多,注意trim电流要大于10mA以上,trim路径上的电阻要够小。
47#
發表於 2014-7-30 15:29:55 | 只看該作者
感謝大大提供e-Fuse的資訊,學習到了!: F( b5 q. d1 v& \. |' u' Y: O2 [$ ]+ l
雖然公司也使用了OTP,但royalty貴的很,還是自己做e-Fuse比較實在 ...
# a2 r8 ]6 h) ]) @billycsu 發表於 2013-1-24 01:54 PM
$ O2 }3 g4 s4 \4 R, B
2 R: }) v& b7 G/ U4 w5 U8 a
剛好看到這個討論
" O/ q5 K* ^+ c3 g5 ]e-fuse自己做, 風險很高!! 光是 reliability 就是個問題~
7 o. w/ W7 K" o6 A7 b( Y8 r& I大部份的人都認為燒斷之後就是兩端沒接上的意思, no!. @+ w1 k7 x" ^- r& N" `7 a: s
這個"斷"並不是真的就完全開路, 除了可能斷不乾淨之外2 _" d/ f' A( R
還有recovery的問題! : l, H2 J$ ~" J( V6 i4 T# q0 V
可能chip用了一陣子之後你會發現讀出來的值錯了, 原本斷的fuse又接上了!
% g/ O/ |( q7 h) d這種事只有親身遇過才知道....0 J8 H# N3 |" l4 ?: S" ?, u
至於原理可以去查查 failure analysis 的書- A, c& @6 Q7 [7 w- S0 A
! U* ]. l, [6 E" a! A
前陣子剛好有機會跟某製程廠的IP部門副總聊到這個問題
* d/ H; T6 ^# f6 N他也confirm了這點~
! r" u. P4 G+ q, L# T) y2 H他特別強調使用IP一定要在spec上的電壓/時間範圍/sequence下操作, 他們才guarantee
4 m& n0 |8 t0 R所以為了產品的reliability, 有些錢還是得花....
48#
發表於 2015-10-26 14:57:34 | 只看該作者
感謝分享解釋得非常清楚。
49#
發表於 2015-10-26 23:02:01 | 只看該作者
多謝大家的詳細解說4 X$ P! E0 M: X% l: I
小弟做test key失敗好幾次6 [% N: Z/ I  v; {" k# b
果然沒有FAB幫忙
$ {: C3 [( d" U要花很多時間
50#
發表於 2023-2-14 09:07:10 | 只看該作者
谢谢各位大佬,有用哦~~~~~
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