高速數位驗證的各種挑戰？到底哪種工作挑戰最大吶？

mister_liu

宣佈推出符合IEEE802.3ba標準和32G光纖通道標準，並具有碼型產生、錯誤偵測和抖動分析功能的全新28.6 GB/s BERTScope
- D, t1 ~9 A$ L( p0 p; o1 @& a
【2012 年 9 月 18 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出BERTScope誤碼率分析儀系列的重要擴充功能，以滿足不斷增長的100 G測試需求。隨著全新的Tektronix BSA286C BERTScope問市，Tektronix即成為第一家針對符合標準相容性測試，提供速度高達28.6 Gb/s且包含錯誤偵測、碼型產生和時脈還原等完整支援的測試設備製造商。
9 U1 s+ E4 L8 X. ]" f: @% w
1 D* a9 `- f0 r隨著服務供應商努力滿足全球對頻寬的需求，研發實驗室致力將相容的100G通訊元件、路由器和其他相關產品推入市場時，不僅僅要挑戰極小的時序和抖動邊際等技術，還得面對產品上市時程的緊迫考驗。全新的BERTScope具有領先業界的小於300pSec固有抖動基準雜訊技術，針對Tektronix不斷增長的光通訊測試產品，提供了極準確的BER測試和實體層問題成因分析。         

Tektronix 高效能示波器總經理Brian Reich 表示：「全新的Tektronix BSA286C提供了一個完備高速通訊測試平臺，可以讓設計實驗室努力跟上100G測試需求；更重要的是，BSA286C是唯一提供深層除錯深入分析的解決方案，讓設計人員可迅速找出特定設備無法通過初步測試的原因。」

mister_liu

當工程師進行應用程式除錯程式時，可使用BSA286C在各種訊號 (包括低偶發性事件) 上執行真實的抖動量測，並能準確地將抖動分解為其隨機和確定的分量。隨著通訊速度的增加，串音將會成為抖動相關訊號雜訊的主要來源。Tektronix BERTScope和高效能示波器均採用了抖動分解模型，可分離出有界不相關抖動 (BUJ)，以快速深入瞭解造成串音的潛在設計問題。  
對100G通訊測試而言，強調接收器測試的28.6 Gb/s誤碼率 (BER) 儼然已成為確保符合標準和測試效能的重要需求。此資料速率可充分滿足邊際驗證和前向錯誤修正 (FEC) 的需求 (100GBASE-LR和ER-4高達25.78125 Gb/s的資料速率)。
. ^/ ]7 M4 c+ p8 g
9 k/ M  p0 u' R0 _' DOPSIS矽光子原型製造服務創始人，現任教於美國特拉華大學 (University of Delaware) 和新加坡國立大學 (National University of Singapore) 的Michael Hochberg表示：「對於100G通訊測試而言，實體層資格在全資料速率時極為重要，尤其是進入更複雜的調變格式，所面臨的主要挑戰之一即是複雜的測試設定和驗證方法；因此，在我的實驗室中，我們採用了BERTScopes，這些系統不僅非常容易使用，同時還能提供非常準確的BER和抖動量測結果。」

BERTScope結合高速碼型產生和錯誤偵測等功能，不論面臨何種複雜的量測方式，均可快速回應，並提供除錯的根本原因分析。對於100G的全頻譜測試，Tektronix提供了適用於實體層TX、RX和光調變分析的相關儀器功能與量測專業知識。除了可進行TX眼狀圖分析的Tektronix DSA8300數位取樣示波器，再搭配上處理複雜調變測試的OM4000 光波相干性訊號分析儀；BSA286C BERTScope提供了一個滴水不漏的實體層測試套件，讓實驗室能從容面對100G標準驗證與除錯的挑戰。

  U% ?# a' {7 c$ H供貨和定價
BERTScope BSA286C全球已開放訂購，2012年第四季將可開始交貨。

mister_liu

全球的電信業者皆陸續推出LTE網路服務，然而下一世代的LTE-Advanced承諾將達到更快速的行動網路連接能力皆歸功於載波聚合技術，R&S推出的CMW500通訊協定測試儀全面升級支援LTE-Advanced載波聚合測試情境，其解決方案將幫助晶片商及網路設備開發商加快商品推出的腳步。

Rohde & Schwarz寬頻無線通訊測試儀現在推出全新LTE-Advanced下行網路載波聚合軟體選項，載波聚合技術可以讓電信業者更靈活的針對不同頻寬的頻段進行組合，大幅增加頻譜的使用率；於下行網路，無線網路設備在LTE-Advanced網路中可以同時與兩個基地台進行連接，於下行網路即可達到300 Mbps的高速資料傳輸率，已經實現了LTE- Advanced初步部署階段的40 MHz的總頻寬，而現行LTE網路最大頻寬為20 MHz。

R&S CMW500讓所有晶片的開發商於下一代無線網路產品開發時，可依據LTE-Advanced Release 10進行測試情境定義，包含了實體層、協定堆疊及傳輸量的測試及驗證，電信業者所需的任何情境都可以在實驗室中模擬及測試，LTE-Advanced網路的所有頻段及頻寬的組合皆可進行兩個基地台下行網路的載波測試，包含MIMO 2x2及4x2。

! |$ x! C0 b$ D  N# ^CMW500可模擬LTE-Advanced網路下的兩個基地台，透過結合兩台R&S CMW500即可進行LTE-Advanced網路的交遞（handover）測試，這樣開發者即可驗證無線網路裝置於LTERelease 10下行網路載波聚合的連續覆蓋行為；這個解決方案對於晶片商或網路設備晶片整合商未來於LTE-Advanced的開發有相當大的助益，而電信業者亦可對網路設備進行相容接受性測試。

mister_liu

增加業界首部多功能32Gbps線性等化器；強化適用於接收器測試的多通道BERT；將發佈適用於CEI-28G-VSR發射器測試的自動相容性測試套件
5 l& W0 H% A. i+ H. ]9 x8 c
- Q. H2 n+ f1 ^: B【2013 年 10 月 11 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，對儀器和軟體系列進行重大擴充，為從事100Gbps通訊系統電測試工作的設計人員提供支援。本次推出的內容包括：LE320，這是一款具有2組差分通道9 Tap線性等化器，所支援的資料速率可達32Gbps，可作為BERTScope接收器測試系統的一部分；用於PPG/PED多通道誤碼率測試儀 (BERT) 的新選項，可在高達32Gbps的資料速率條件下提供訊號減損和輸出調整與全新的40Gbps誤差偵測器機型；以及選項CEI-VSR，此選項可自動化DSA8300取樣示波器以執行CEI-28G-VSR相容性測試。

, d0 r8 T  u5 C. Y5 d" g& b* E4x25G測試的需求對於從積體電路設計轉向接收器和系統設計的產業來說，變得更加重要。設計人員正在開發資料速率可達100 Gb/s (將使用四個25-28 Gb/s通道提供) 的創新網路元件。設計挑戰在於在印刷電路板上傳輸這些高頻訊號，即使是短距離傳輸。LE320為測試工程師提供了多用途的輸出訊號調節和可調輸入均衡等化功能，以建立適用於測試四個25-28Gbps電通道的最佳系統；這是對增強的PPG/PED碼型產生器和誤碼偵測器產品線多通道功能的理想補充產品。取樣示波器選項CEI-VSR將確保高效能和一致的相容性測試支援，使設計團隊能順利過渡至製造過程。

5 X, P9 C) C( ]8 s) o) B8 l/ f' G* yTektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G逐漸成為主流產品，我們的產品系列便增加了兩項重要內容，以應對晶片、轉換器、收發器和系統4x25G PHY電性測試領域的挑戰。針對接收器測試，我們不僅支援電通道建模和等化功能來強化BERTScope，也為多通道BERT增加了40 Gbps支援項目；而針對發射器電性測試，我們則為設計人員提供了適用於CEI-28G-VSR測試的自動化解決方案。」

mister_liu

適用於接收器測試的輕巧和多功能32 Gb/s線性等化器
& M( P' D' ?- a) K8 q6 P1 X$ X開發10Gbps或更快系統的設計人員需要位元於Rx輸入之前的等化器或位於發射器Tx輸出上的預加強模組。當速度增加時，能符合這些要求的12Gb/s以上儀器級訊號調節產品寥寥可數。業界領先的LE320將以用於提供100G通訊標準 (如CEI-28G-VSR) 所要求的高準確度誤碼率測試的9 Tap設計來支援資料速率範圍為8Gbps至32Gbps的訊號調節。LE320的創新遠端探棒設計能讓設計人員盡可能地縮短測試系統的電纜長度，同時可避免訊號劣化問題 (此問題在25-28Gb/s條件下極為明顯)。全新的LE320儀器級封裝採用Hittite所提供的自訂矽微波元件以減少元件數目，不僅提供了突破性的效能和多功能性，且其尺寸與智慧型手機相去不遠，而價格甚至低於低功能替代產品的三分之一。
' d3 W' O% f. k7 j1 t$ j
. F) F9 L7 J' ?4 d) X! w; j利用儀器級的可編程等化功能，LE320可配置為提供標準專屬等化功能，允許對其他閉合眼狀圖的訊號進行誤碼率 (BER) 分析。針對採用較低資料速率的客戶，Tektronix亦為20Gbps系統提供LE160機型，以滿足40G-KR4、14Gbps 光纖通道和16GbpsPCI Express 4.0等應用的需要。

3 z: K: r( ]5 {% i3 @7 @適用於100G測試的多通道BERT功能
多通道高資料速率標準驅動了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端BER測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個高速並行通道而推動的系列測試之中。Tektronix PPG/PED多通道BERT產品線現已提供擴展的抖動減損功能，全新的輸出調整靈活性和更高速的誤差檢測功能，更能滿足這些標準的要求。

- _& Y; I4 C6 Y' u6 c* J" D抖動插入選項的擴充範圍包括選項HFJIT，該選項現在提供BUJ以及RJ和SJ；以及高振幅/低頻率PJ，作為新選項LFJIT的一部分。同時推出的還有選項ADJ，該選項增加了具有快速上升/下降時間和低固有抖動的可調輸出，以滿足32 Gbps多通道碼型產生器應用的要求。支援資料速率可達40 Gbps、採用1或2通道組態的新PED4000系列誤差偵測器產品的推出增強了資料速率餘量測試。

mister_liu

更快速、可靠的CEI-28G-VSR相容性測試
% }2 V" S( ~) x: g! m針對光學互連論壇通用電氣介面 (Optical Internetworking Forum Common Electrical Interface，OIF CEI) 3.0 標準的實施協議規定了針對以 OIF 標準為基礎之裝置的測試和限制值。CEI-28G-VSR 屬於這些標準之一，其目的是用於可插拔光學收發器中的極短距離電通道。這些電氣介面必須滿足系統誤碼率 (BER) 目標的要求，且必須通過嚴格的測試和除錯週期。
! |1 i8 \2 P2 @+ ]' V, ~
直到目前為止，執行所有需要的CEI-28G-VSR相容性測試和找出與抖動或雜訊的相關問題一直是難度極高且需要大量人力的任務。與Tektronix 80SJNB串列資料連結分析軟體的整合後，即可讓使用者進行更深入的除錯和時序根本原因分析，而無需變更儀器或量測設定。

; S0 z) j$ `4 h* |4 z- }將選項 CEI-VSR與其Tektronix DSA8300取樣示波器搭配使用時，設計工程師能在5分鐘內即完成相容性量測；與手動替代方案相較之下，這可使測試時間縮短約95%。此外，選項CEI-VSR還可用於確定CTLE峰值的最佳化，以滿足CEI-28G-VSR主機至模組介面規範等標準的要求。設計工程師需從一組給定的濾波器中選出最佳的CTLE濾波器，並將其用於執行量測。如果沒有此項功能，設計工程師就需要花時間來手動判斷最佳的CTLE值，從而降低生產力。

$ y' q2 }& ^. d6 B定價和供貨
Tektronix 32 Gbps LE320 和16 Gbps LE160線性等化器現在已提供客戶進行評估，並將於第四季開始全球供貨。適用於抖動插入的Tektronix PPG3000選項及全新的PED4000系列，兩者均將於2013年第四季開始供貨。選項CEI-VSR亦將於2013年第四季開始供貨。

mister_liu

最新的M-PHY接收器測試產品包括適用於HS Gear 2和Gear3、PWM模式、自動校準和邊際測試的完全支援

【2014 年 1 月 28 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，擴展其業界領先的M-PHY接收器測試解決方案的功能。附加的功能包括高速Gear 2和Gear3的實體層接收器測試、PWM模式 (G0-G7) 的支援、自動校準和邊際測試。以M-PHY實體層為基礎而開發下一代行動裝置的工程師現在可使用此解決方案來解決設計挑戰，並能輕鬆執行自動化相容性、產品驗證和邊際測試等程序，來克服訊號完整性問題。
3 D) _6 y+ b! B9 N3 y
1 O9 G9 ?6 S" q3 B! I. I) W6 z3 Q0 kHS Gear 2和Gear3與PWM模式 (G0-G7) 的支援使設計人員能靈活地以完整範圍的資料傳輸速率來執行測試，全面深入瞭解其設計。高速裝置的自動校準支援功能降低了安裝的複雜性，可有效節省時間，並讓使用者能更快速地測試裝置。高速裝置的邊際測試可讓設計人員能驗證裝置，並對裝置執行壓力測試，激發其最大的潛能，進而產生有競爭力的技術規格。
# b0 {! y# e' t% ]% \& {
) d% @3 D  e+ g, I5 @+ qTektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「Tektronix的M-PHY接收器測試解決方案為設計人員提供了在產品開發階段早期找出設計和特性問題所需要的深入資訊。此解決方案結合了Tektronix示波器的量測精確度，可讓設計人員對其裝置的理論極限執行壓力測試、在自動化的環境中更快速地測試產品，並有效縮短產品上市的時間。」

mister_liu

Tektronix 簡化了複雜的M-PHY測試
MIPI聯盟的M-PHY規格提供了一個低功耗、低成本的PHY解決方案，此方案具有可擴展性和足夠的靈活性，能滿足現有和未來的行動和消費電子裝置市場。藉由其多變的裝置、終端、振幅和高速串列資料傳輸速率等特性，M-PHY提出了一些在接收器和發射器兩端需要專用測試解決方案的測試挑戰。
6 W9 F! x* n1 V( s. a5 T* c) i9 f
/ t+ o2 c" [9 ~+ H6 [% G2 J% H9 QTektronix M-PHYTX/M-PHYRX自動化軟體與Tektronix DPO/MSO70000系列示波器搭配使用時，可涵蓋完整範圍的M-PHY發射器和接收器測試要求，並為廣泛的通訊協定解碼提供支援。在發射器端，測試設定和執行是完全自動化的程序，僅需要一台儀器即可完成。針對M-PHY接收器測試，將僅需要高效能示波器和AWG7000系列任意波形產生器等儀器。TekExpress自動軟體則為設定和測試程序提供了便利的使用者介面和直觀的工作流程。

供貨
Tektronix MIPI M-PHY發射器與接收器測試解決方案，以及擴展的接收器測試支援服務現已提供。