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其實以新人來說! C' g1 X& X; x1 @; n
回答這類問題並不用太傷腦筋$ t3 w$ O7 A0 j$ P& S1 n: f% G
主管是要看你了解這東西的程度
$ o' f" T, `& |提供個答案供大家參考* q7 ^- p' i# i) Y; u4 H5 `3 x
ESD 是靜電放電沒錯
) _! P5 g4 J }& I" i5 T9 C, R不過可以提一下它有哪幾種發生的機制/ A1 c0 @1 p) K/ [2 ^+ @" B1 E
ESD 共有三種機制需要測試
0 ]. y$ c4 p& x& T0 O) @3 v分別為HBM(Human Body Mode)..MM(Machine Mode)...CDM(Charged Device Mode)1 W. Q6 F; M3 F% z, c
預防對策則為... @2 e# F9 D% s
power & ground pin 使用 power clamping
" u2 m* g1 S/ UI/O pin 做 ESD protect device
7 U4 q/ e; V, z" hinternorl circuit 有接到pad path 的mos....drain端做ESD rule放大; k T# W* l0 u; t/ d, a2 L
0 F- Q, b: Y n4 c# w+ U! hLatch-up 可以用簡單的話來解釋
- c, |' V) ?# `- G2 Q9 Q Lpower & ground path 寄生BJT形成SCR電路
. U' Y1 v1 H: Q8 p經由電源擾動....產生大電流的拴鎖現象
& |0 k1 e+ {& P0 U2 C造成pwer與ground的虛短路(可以畫一下寄生BJTs形成SCR的電路模型)3 H6 ^. ? l+ G) ]
ESD討論版有篇關於latch-up的文章: I$ z: y1 Y$ i* j7 m/ d
可以view一下剖面圖跟等效電路圖4 T' ]) e( t& w3 W+ `! n
由剖面圖跟等效電路圖就能推敲出+ Y/ i( m: Q% N2 B2 o/ s
latch-up該怎預防
. L* D# r) s: g |/ d p9 Q1.盡可能補上well-contact以及subtract-contact1 W+ E: `* J# P5 w/ h
其用意是為了降低Rw跟Rs的阻抗.9 y! w, P% V1 d p
2.靠近PAD區域的circuit,pmos與nmos之間的距離拉開
! b4 T9 r7 D+ _- [% m 並且保持gurdring的完整.
( N& p1 N7 b. V. s (p,nmos拉開由剖面圖可看出Q1base跟Q2 collector之間的阻抗會增加 )
9 r7 \, S! s; V5 \
# `0 _ _) p# h5 v- D% L# Y' S$ v1 K若有解釋錯誤或是哪不夠詳細的
5 O5 S: [: a& c0 x I/ Q2 T歡迎大家一起討論 ^^
: {/ w; h+ K' ^6 S5 b- N& Q7 F$ l. K
PS: latch-up比較常發生在pad週遭....內部電路比較少發生6 p, z6 W4 c$ G8 d$ i
個人是認為...ESD發生時也有可能引起latch-up g- u/ E6 {6 f+ Y% y, e7 t
不知大夥的見解為何?! |
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