《LTE and the Evolution to 4G Wireless – Design and Measurement Challenges》

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安捷倫科技新書上市 深入探討LTE技術之量測與設計的挑戰
超過30位LTE專家傾囊相授為研發人員提供豐富的專業知識
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2 T2 h* C: L+ U8 T5 ?6 A1 ~2 i- O) U安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前發表其最新出版的《LTE和4G 無線技術的演進–設計與量測挑戰 (LTE and the Evolution to 4G Wireless – Design and Measurement Challenges)》一書，書中詳細解說最新的3GPP LTE蜂巢式無線技術，及其衍生之工程設計與測試的挑戰。此書已可上網預購 www.agilent.com/find/ltebook。
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此書由多位安捷倫量測專家所共同撰寫，書中針對LTE無線介面的實體層量測，提供許多寶貴的資訊與論述。此外，LTE權威人士K.F. Tsang博士以及Anite Telecoms公司亦傾囊相授，完整介紹各種信令與協定，並發表精闢的分析。全球行動通訊業者預計將於2010年開始部署LTE商用網路，針對複雜的LTE技術，書中亦有詳細的說明，並提供許多實用的量測技巧與專業知識。

- O% i4 Y7 g4 ^; z' t( P- ?安捷倫科技電子量測儀器事業群總經理之志銘表示：「我們撰寫此書，旨在協助客戶快速地設計並部署LTE網路。這是一本由量測專家寫給量測專家閱讀的專業書籍，書中蘊含豐富而珍貴的測試資源，可加速LTE行動通訊網路之部署。」

此書有許多章節詳細闡述LTE所使用之先進技術，例如多重輸入多重輸出(MIMO)和單載波頻分多工存取(SC-FDMA)等全新的上行鏈路調變機制。同時，此書亦深入探討上層信令及系統架構演進(SAE)等議題，並說明如何排除LTE在設計與測試方面的挑戰，令早期採用LTE技術的業者受益無窮。此書有多位作者都是3GPP標準委員會的會員，他們分別在書中探討如何驗證接收器與發射器的設計、討論量測LTE系統協定的技巧，並提供RF和信令相容性測試的最新資訊。
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0 c  u, d2 d- @《LTE和4G無線技術之演進—設計與量測挑戰》一書，歡迎您上網預購www.agilent.com/find/ltebook。

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【台北訊】安捷倫科技推出新型TD-LTE商業測試產品，用來產生標準化TD-LTE信號的強大PC架構軟體，以及具備TD-LTE調變分析功能的向量信號分析 (VSA)軟體。
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安捷倫無線事業部副總裁Ron Nersesian表示，隨3GPP LTE標準經常性地在更新，因此，安捷倫將TD-LTE研發資源設置在中國，確保可快速回應亞洲市場需求。安捷倫已開發出數項市場首見TD-LTE測試產品，滿足業者達成產品縮短上市時間的目標。 安捷倫TD-LTE測試解決方案相當完整，包含可適用在安捷倫SystemVue和ADS先進設計系統的Agilent 3GPP LTE TDD無線程式庫，也能直接搭配安捷倫MXA信號分析儀，協助無線系統設計人員和驗證工程師，加速LTE TDD開發設計。

此外，Agilent N7625B Signal Studio for LTE TDD是可在PC架構強大運作的應用軟體，採用安捷倫N5182A/62A MXG、Agilent E4438C ESG向量信號產生器，以及Agilent N5106APXB MIMO接收器測試器，產生標準化的TD-LTE信號。
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( p! {# U! O+ ~; r6 v( k- PAgilent 89600 VSA軟體則為RF與基頻工程師，提供完整LTETDD信號分析工具，可進行LTE實體層測試收發器和元件的實體層測試與疑難排解。
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' p7 l& s( r! m0 P$ N透過軟體支援搭配安捷倫EXA與MXA信號分析儀、VXI架構VSA分析儀和數款示波器，進行2x2 MIMO 分析。VSA軟體也擁有與安捷倫ADS先進設計系統TD-LTE無線程式庫的連線能力。