逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
  O1 N" l( l% B2 x8 r. i+ |         活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
% Y5 r% [" j+ `( Y" y5 i' T4 f(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
" ~% w0 k+ `- @7 t! w5 W2 U# v" A9 o4 ~         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
  @: n) |! P$ [3 ?9 z- A         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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! G) |+ H, L1 L: I+ @  |* S主辦單位：經濟部標準檢驗局
1 {* d% z5 e2 q; d  I承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
: s2 v: \$ r1 T洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
6 |6 ?# w9 [6 r  ]6 z7 [9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
/ e/ m9 I$ H& d% X& ]/ x) x  ?$ U1 ~0 ]" {9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
: N2 i9 E: q4 G$ n2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- r) J8 M% D% P0 z- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
2 Y& ~4 {1 ~3 p4 D- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
$ I: R$ A# X  X  }7 }0 i  ?- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
3 m/ n+ Z* d- o/ v0 a& G" k5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
7 l0 Y+ Z; }8 {; w
5 x0 C7 x6 \- S1 I7 T; p
  r# R- c  B! g4 N) `97年11月04日 (星期二)
  @: a6 E4 Z: t0 r: t
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
, L# r0 b* f  F8 \: R內容包含:
電磁模擬範例分析
+ u+ c+ g( h! K0 ~: U/ b; V6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
& ~* q& \4 ^0 W6 h# m8 U0 ?/ H6 V- X•        WBFC Modeling and Simulation
•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
# c) [6 P- N5 ]2 N- General Noise Characteristics
$ V( y# P6 G# ?- Power Noise Study
& l# h& G; D9 e% K- H  _/ |6 k6 @3 J- Signal Noise and SI Study
6 d% d' i, P2 v" A6 i�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
7 ~  d0 J4 w) P+ f4 L. ?7. Trend of EMC issues on chip-level
8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
( p" g& N- G; |+ q$ y  M11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
1 M+ t4 K8 r# k1 N12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
8 D; v0 g/ K+ d, K& \9 k/ V•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
; G. B7 X4 M( h' F' H( s8 b 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
# i3 B& {# N( X9 }, N9 @  P回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

: t; q6 J* y# e' y- [( @至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

' G- L- O. g! v( _; ~
' Y& J. [7 G/ D2 w7 a7 J1 R好方法

可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
, x/ \$ t( ?$ y3 d+ B0 E
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
9 x3 A$ }1 H/ G" {. V+ ^6． 如何消除串擾
: A2 Y4 _; W3 g* X9 E7 G7． 電源/地噪音的種類
' h# n" a* w+ A, h) @* U% Q! K1 c8． 電源/地噪音的副作用
$ q) f) w( c' P$ o3 s' V3 s/ T9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！