Chip123 科技應用創新平台

標題: 嵌入式系統混合信號驗證除錯技術 [打印本頁]

作者: jiming 時間: 2007-4-17 05:37 PM
標題: 嵌入式系統混合信號驗證除錯技術
日期: 2007/5/23至2007/5/23
地點: 台南市大學路1號(國立成功大學電機系1樓靄雲廳)
洽詢單位: 太克科技
網址: https://www2.tek.com/TWRegistration/Event/event_select.asp
主題: 課程內容包括示波器的應用發展,嵌入式系統設計驗證與除錯測試的相關議題,嵌入式系統的相關串列匯流排(I2C,SPI,CAN,RS-232)分析,混合信號時序驗證及狀態分析的應用,太克科技時域量測解決方案

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com/)