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標題: 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會 [打印本頁]
作者: Morgan    時間: 2008-10-13 10:35 PM
標題: 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!  F) m* `/ J- y2 M2 Y
        活動內容：; m' s; d/ a7 E# F7 t" T
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
( X, z& l+ g$ j! A; r1 t! V3 X時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程% ]" ?& ~4 r* p9 i2 y% S
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
7 R. r. {( {4 f4 t4 [3 b(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
; f' {9 K  {* W! G; @' }地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）% Z# X' t) M' x# ~# k7 S* F
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）  z. H: `2 J. }- @+ W4 H
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
8 R- p) Y6 v# e6 y, H; @6 K(2) 傳真至（04）3507-21174 C/ v7 l! }# _, j2 W0 B+ Y! T
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
$ D2 l( M: N( b1 A$ K# Z0 U2 j: q         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
$ a7 K5 Y7 t, R8 }% _# {********************************************************************
  y* ~: a4 [( `# F) Z. j主辦單位：經濟部標準檢驗局
' e" z4 M0 [/ C9 s" l承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心+ p8 K( j: }. C: A' B
洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐
作者: Morgan    時間: 2008-10-13 10:36 PM
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
7 A  J1 h, G: l2 m3 n3 I97年11月03日 (星期一)
* C0 o5 R$ c8 J3 |7 Z* s時     間        活 動 內 容
: P% o0 m# f2 l6 }* `8:30-9:00        報      到2 q6 p$ C7 z& a% G' R+ z( G
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
. l% }% v6 c# d1 J2 |+ g. F9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
3 c/ F; ~4 ^9 I# p主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授6 d9 D2 D2 P0 d6 S; E% @
內容包含:
6 ?! j1 Y! P! k  ?( H2 N5 O1. EMC問題趨勢的發生與分析
) F2 i1 k0 W. u. S2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析0 y+ {$ T9 `4 Q
- Platform noise effect% k! I+ e0 B; q
- Noise measurement procedure
7 t+ ^4 N2 Q; p5 G6 s5 X; l, ~3. EMC之原理分析與設計技術簡介
: O: m# a& W- e5 Q2 J" ~- Filtering! e. G1 N; n4 z( d' y6 n% [! Q! }
- Shielding& Z4 V  B5 T( r, o
- PCB Layout1 W+ x" Z. l: L+ X# u
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
1 _5 P7 `4 E7 T- Power/Ground plane layer impedance measurement8 u7 `/ I* V' ^% Q2 X8 P
- Power Distribution System (PDS) Design
# |. s- V# R) u. q9 [" M5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
9 p' F# m8 v8 l# e- Measurements for Signal Integrity
- F$ V% v) y$ S$ |; H) Z# i- Multi-Gigabit transmission over backplane systems5 G  A/ Y* A( t* a( A* K
+ c: H& F* p6 Z% A

4 E" }' a9 e5 T: v) l" }97年11月04日 (星期二)1 e7 h& U! @5 g8 @; Y( J" v. }3 f

: m3 p# s+ P( k0 c9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授7 y2 o, f3 o, k( r( k
內容包含:5 `1 k) n3 _* J- l
電磁模擬範例分析
# P2 Y$ e' Z/ ?1 k6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation  V) t/ @. N" L: M' L0 R( [& O
•        WBFC Modeling and Simulation
  G& B+ O% d. v. Y•        MP Modeling and Simulation! z$ M. c9 p+ E6 U
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- }. g! b2 M+ f( m& ]) |* w/ E- General Noise Characteristics
& F! a# I, N& b' N6 V, J: f! F. A- Power Noise Study" J- v: a8 ]3 K6 |% A* z( }8 w$ i8 ?
- Signal Noise and SI Study5 M7 x, ], j( P7 a5 {9 X
�        Slit on Reference Plane5 y) e7 M/ x0 g' c) D- o+ k/ Q. i
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane. U" n  Q* }& b  q1 [/ U  H; c: ^
�        Reference Plane change
/ i! P: S" z  H0 `/ j, o�        Trace near the Card Edge! }" E; f9 U: y% F4 h) x. p
7. Trend of EMC issues on chip-level: ^# r7 C# s9 E
8. EMC design trend for chip-level4 \  I7 C) E6 X: @6 Q! M$ U2 F% n
97年11月05日 (星期三)( L2 {0 t7 B* R3 y. q* t
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授, P7 V3 X$ {( N' O: d1 j( m7 A
內容包含:6 P; M+ [& z- h8 t, X5 o
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
! K/ x# I, F& W2 ^% Z4 h, g10. IBIS modeling vs. Spice modeling 2 L( s9 r' x0 g" e1 F3 H
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用$ Q- ~7 G& m  f4 R6 h' p5 g4 p
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring5 o, x( [# e% D8 C
•        New Challenges in Modeling and Measurements0 l) g6 o! I. b/ _% Z
•        Loss Mechanisms and Their Significance, f) J0 Y/ q. E7 O) I5 z) A/ Z
•        Limitations of Present Methodologies/ m, K# I' r. a9 Z% S
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
/ l# n& v1 C: C+ h0 m) W•        Production-level Process Integrity Monitoring
1 ~3 `9 M) C4 A8 ~8 D8 d+ b  l 13. 綜合座談
作者: andytang    時間: 2008-10-14 09:42 AM
幫推~很想參加，可惜人在桃園) P  a8 Z. K  D
回來又要寫一堆報告
作者: heavy91    時間: 2008-10-14 09:45 AM
標題: 回復 3# 的帖子
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......# h& e" I7 e' O7 w

, A/ K  t& c8 ?. T  E5 U. S至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
作者: andytang    時間: 2008-10-14 09:56 AM
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表 9 {6 }3 m' y0 M- ?8 U: a
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉......." l2 z6 ?8 w8 k. q$ _/ \
( S( Y1 r0 n1 t
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
7 ]9 B9 T0 K. U" s0 r! K- p4 M

9 p) N, m6 Q; j( K- Z( v" P. }好方法
" E* t8 V: L4 ~- C/ m6 v% B! {" K/ j1 X9 I
可是還是要有人在錄才行
作者: jiming    時間: 2008-10-21 05:26 PM
硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？ # }) Y& [, y; z5 M8 J' J7 T$ u
& d3 [9 z+ o: z& P7 X+ F; r
1． 上升時間和信號完整性
; m/ E8 Q5 P% k: C( c+ u2． 傳輸線的種類4 L( f4 Y8 Y0 }4 X
3． 反射產生原因
% s# r+ |* B4 o1 X" b. i4． 如何消除反射7 ^: k+ F  w* s: ^/ S. `" n
5． 串擾產生原因
  d5 W) V; y6 r+ Z/ J2 w6． 如何消除串擾
, o/ k7 ~, r( W3 V8 r! v7． 電源/地噪音的種類
9 l7 W3 A0 P5 `( q" H5 ^$ m8． 電源/地噪音的副作用! R2 h: o( _& q0 H/ J# K+ e
9． 如何消除電源/地噪音  ?3 T/ X3 m. r, J
10． 電源/地模型
作者: bape770101    時間: 2014-12-25 10:53 AM
希望能夠再開課一次   ..............
作者: ESD_ESD    時間: 2015-2-12 04:05 PM
听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
作者: alienwarejian    時間: 2015-5-10 12:20 PM
很好的资料，谢谢楼主的分享！



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