DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
[) D8 }1 C; M" X1 ^8 y! U | 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。" @# J# K' W4 k3 P& {8 _" ^
|
08:30-09:00
; w: v& V6 _; f: d c$ h( B | Registration and Welcome7 Z P! e; x" ~ a
| 13:00-13:30
! D" Z7 x8 S+ | | Registration and Welcome' z" n5 m4 e# H" s
|
09:00-10:00
/ ^9 w( u* e l; W | DDR1/2/3的電氣特性規格要求
/ V9 r4 _) ]4 v" v# G3 `8 s9 n* s | 13:30-14:30 B' E1 t& l0 W/ K" G
| 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰( _; s1 v* ?9 Q# Z4 d! R; V
|
10:00-10:300 v: g! }, V5 t! N' z" d4 `
| DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧0 q9 X0 G, Q4 |
| 14:30-15:00) y1 N3 N3 W6 S
| USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
+ h! H9 j* a7 f& l6 a |
10:30-10:500 `: R$ v1 {; |: A p6 p4 B
| Break & Product Fair5 o2 T7 s# U- v# B- N& ^! ]- z
| 15:00-15:20: w6 _ H- C- ? \6 E( C
| Break & Product Fair! `* X6 t" |% b, V- ], T
|
10:50-12:00' Y. ~; M/ n" D! C9 ?
| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
z6 ~5 z- G7 _' K | 15:20-16:30
$ H3 ?/ m4 ~& n' l | USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題
5 j, H* e6 G, C5 Q5 n* y* y |
12:00-13:00 s& ~( i& m. o0 k$ o
| Lunch
# O. W4 `6 w7 V+ A$ Z | 16:30~17:00
9 x; O N+ v, L) a | Survey & Lucky Draw4 l, w7 {1 w" B" A, z3 b
|
