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標題: 2011/6/28,30 安捷倫電子量測論壇 [打印本頁]
作者: tk02376    時間: 2011-5-10 02:35 PM
標題: 2011/6/28,30 安捷倫電子量測論壇
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邁向無線與數位技術整合的新紀元' t- {/ T* t) ~; c% \! [8 c7 h* a
9 U7 A! ^5 p- z: Y
　　長期以來，資通訊產業一直是帶動台灣發展的主要驅動力，而今，隨著全球個人 電腦、電腦網路和智慧型手機等銷售增長，台灣廠商靈活的經營策略以及快速跟上最新發展的研發能力，形成完整的供應鏈，開創台灣今日立足於全球資通訊產業的地位。* j! Y  d' J* g

- I9 h6 i( D1 i( C( ?. T) H" A　　資通訊展業前景無限，投入者眾，充滿創新與秉持服務客戶最佳精神的台灣安捷倫科技，一直都是客戶的最佳夥伴，為協助相關廠商藉由量測技術讓工作更得心應手，連續十一年，台灣安捷倫科技盛大舉辦電子量測論壇，與顧客們分享當前最熱門的科技應用及其全系列解決方案。此次，台灣安捷倫科技將提供更具主題性的內容，並針對相關技術趨勢，進行剖析目前最受關注的無線通訊及數位量測二大主題。
( z8 A3 ]& f. D7 n7 Z3 M
( t$ I2 |* K+ n- B/ S" v# }: J無線通訊論壇1 g1 ?7 D7 F1 x
　　行動裝置市場的爆炸性成長，促使無線設備製造商加速建置LTE裝置與制定新世代無線連接規格，以滿足使用者對寬頻數據服務功能日益迫切的需求。此次論壇，安捷倫將為您帶來領先市場的LTE-Advanced與802.11ac測試解決方案與技術簡介、創新MIMO的測試技術、與洞悉行動裝置的完全測試要訣，會場亦將展示最新無線測試設備與解決方案，並且重申了安捷倫在無線通訊技術演進的過程中扮演強力、積極的領導角色的承諾。+ r9 ]. w* S8 F! O
0 _9 Z% h( O3 ~# \2 H7 L/ U" J
數位量測論壇' S/ v( @, z/ g6 j
　　近來雲端運算、智慧型手機、平板電腦以及電子書閱讀器等風潮所引領之新一波數位革命中，高速的數位及光通訊技術已成為各廠商提昇競爭力及搶攻市佔之關鍵。此次論壇，安捷倫科技針對USB, STAT和PCIe3.0新興傳輸介面、Displayport 和HDMI熱門顯示技術、DDR3和SD Memory高速記憶體測試、綜合元件測試以及未來前瞻科技等五大主題進行探討。 　　
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　　6月28、30日，台灣安捷倫科技誠摯邀請您參加「2011安捷倫電子量測論壇」，請立即選定主題，踴躍報名參加。
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台灣安捷倫科技股份有限公司9 @: Z% u" x4 g) A8 L0 H7 f
電子量測事業群　總經理
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* Y- T% ]; v0 z- G
活動時間及地點：$ E* c* t( K% j
台北場 活動代號：11_EV_010383
7 p1 W/ z0 O% W2011年6月28日 (二)
' X1 B  @) b7 o, }$ }( w台北富邦國際會議中心 B2 ABCDE廳  `* m. u" C. h  f% [" ^9 E' _
台北市敦化南路一段108號 map
( B  }" i1 ?0 W4 p! s
+ R2 B) N* v* _$ B8 v! T新竹場 活動代號：11_EV_010384+ o; b8 b, q/ d1 Z( v7 H/ |
2011年6月30日 (四)
  g# T( l& M% h8 z. r* b煙波飯店 B1 麗池館凡爾賽、阿波羅廳　/ g0 p( z9 B7 @- {& g
新竹市明湖路773號 map
作者: tk02376    時間: 2011-5-10 02:37 PM
數位量測論壇無線通訊論壇
08:40~09:20報到 / 展示攤技術交流報到 / 展示攤技術交流
09:20~09:30研討會簡介及致歡迎詞研討會簡介及致歡迎詞
09:30~10:20Enabling the Compliance Test of USB, SATA, PCIe 3.0) ^/ G" u! X  [
Francis Liu 3 d- ]5 J- I  T4 Q
Senior Project Manager5 F" _- h. E. S0 P6 X' H
Agilent Technologies		The Road to 4G: IMT-Advanced and LTE-Advanced
5 M  u% F( L' s1 F, \. bBrian Su
5 _" U$ y8 L2 k+ w) e9 JProject Manager
; v7 H& F! M3 G# X: oAgilent Technologies
10:20~11:00茶點休息及實機展示茶點休息及實機展示
11:00~11:50Validation Testing for DisplayPort and HDMI
* o7 L% `/ a. A8 K4 \  o! xBrian Fetz , d7 N& X3 m  A9 }% A
Measurement and Display Applications Product Manager
: c$ a- L; M+ B* D& GAgilent Technologies		Using Antenna Pattern Measurement for Flexible and Cost-Effective MIMO Over-The-Air Characterization
8 K2 L1 y- M% a- h1 j  G& r# i7 _+ H4 YJian-Hua Wu
, @9 C& a. R$ T1 y: N6 H- vApplication Engineer
  J. K# |, r1 iAgilent Technologies
11:50~13:00茶點休息及實機展示茶點休息及實機展示
13:00~13:40Techniques for Analysis, Validation, and Debug of High Speed DDR3 and SD Memory
. P" Q* ~, w4 A- ~Jennie Grosslight  t% {* x* H' P6 f+ V
Memory Product Manager; D+ m- s) |6 V" V; p$ X. q
Agilent Technologies		Understanding the Next Generation of
  G9 Y9 G+ ?$ [- nWiFi Technology and Testing - 802.11ac: Q3 W* t+ b4 ^% D+ q
Mirin Lew 9 c- \: }" @9 K
Application Expert
( H, W# u2 G# T0 W0 V6 j9 L3 G2 ^Agilent Technologies
13:40~14:20茶點休息及實機展示茶點休息及實機展示
14:20~15:00Electrical-, protocol- and application layer validation of MIPI D-PHY and M-PHY designs& K3 ^- R' O5 u* G/ S1 ?$ S
Joe Lin 4 X& o1 Q0 P( K" k
Application Engineer
# ~2 `2 g, T) k; E' d4 z: rAgilent Technologies		Testing Today's Mobile Device: Multi-band, Multi-format and Multi-function
8 ]  X/ U5 y! Z' KPhilip Chang
( ^! t. H+ B$ g6 {Senior Project Manager
5 f1 ?& D* x- T% Q- xAgilent Technologies
15:00~15:40茶點休息及實機展示茶點休息及實機展示
15:40~16:20New technologies for high speed digital I/O
5 j; z* S! g* e3 J0 c, YHansjoerg Haisch
& F- Q8 L: h8 yOptical Products R&D Manager+ s  P: Y% s6 R; c
Agilent Technologies		Optimizing Battery Operating Time of Wireless Devices
, F2 r4 d; z) I4 F- REd Brorein6 h, _# y$ p( P/ t
Application Expert
& }& ^, f6 d( ]% Y9 m# ?Agilent Technologiess
16:20~16:30幸運抽獎幸運抽獎
作者: tk02376    時間: 2011-5-10 02:37 PM
現場實機展示：
‧Agilent Eesof EDA -- ADS, EMPro, GoldenGate, ICCAP
‧Agilent CertiPrime再生機讓您的投資更加彈性 -- 原廠認證更有保障
‧半導體及功率元件參數量測 -- B1500A, B1505A, B2902A
‧新興傳輸介面 -- USB 3.0, SATA 3.0, PCIe 3.0
‧熱門顯示技術 -- DisplayPort, HDMI, MIPI
‧高速記憶體測試 -- DDR3, SD UHS I/II
‧綜合元件測試應用 -- 讓您的VNA更加犀利
‧信號分析新武器大觀 -- 掌握明日無線先機 前瞻工具助您一臂之力
‧加速LTE行動裝置的開發與驗證 -- 設計不確定性減到最低並縮短實驗室設定的時間
‧洞悉新世代無線網路 -- 領先市場提供802.11ac設計與分析支援
‧次世代無線裝置製造解決方案 -- 協助製造商控制成本，達到加速產品上市時程
‧體驗示波器量測5大秘訣 -- 更新率, 分段記憶體, 觸發, 解碼, 遮罩測試
‧掌握電源管理分析 -- 無線裝置電池管理極大化
安捷倫科技研討會報名注意事項
1. 若有其他產品或技術問題，歡迎電洽安捷倫免付費專線：0800-047-866
2. 您可利用免付費電話報名0800-047-866，請指明活動代號
3. 或利用線上報名
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4. 煙波飯店將免費提供停車位
作者: globe0968    時間: 2011-6-14 11:42 AM
標題: 安捷倫6/28、6/30 舉辦2011電子量測論壇
台灣安捷倫科技將於6月28、30日在台北富邦國際會議中心和新竹煙波飯店舉辦「安捷倫電子量測論壇」，透過10個專題演講以及10多個實機展示，探討無線通訊與數位量測2大主題，其中包含新興傳輸介面、綜合元件測試、未來前瞻科技、第四代行動通訊技術、次世代無線連接技術與行動裝置測試大剖析。
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$ @$ l4 [2 y. q! k6 V+ U  O$ U0 S主題一：無線通訊, N- b4 ?! q" b
安捷倫的工程師都致力於成為量測的專家，開發領先技術的設備和系統，協助客戶輕鬆開發元件、模組和裝置，以贏得市場先機。安捷倫參與了許多標準制定的組織，與無數的設計、開發、整合及製造工程師合作，提供業界最佳的工具。6 v6 y* r/ M, v5 D: Q6 d( a& q

1 h; N" N) n1 i' i8 }5 v* r! h1、Agilent 89600B向量信號分析軟體LTE-Advanced信號產生與信號分析工具，可以讓設計工程師立刻開始進行LTE-Advanced實體層實作測試。8 x& @8 u. F& A( k. ]+ W% y
2、Agilent 89600B VSA 802.11ac軟體可以讓工程師針對元件與接收器實作的所有802.11ac調變格式，從BPSK到256QAM，進行檢視及除錯。為提供更大的彈性，該軟體支援所有的信號頻寬，包括20、40、80和160 MHz，以及多達4x4的MIMO配置。
) y/ f3 A! o/ c3 `0 J& {3、Agilent N7109A結合了模組化N7100系列量測硬體與業界領先的Agilent 89600B向量信號分析(VSA)軟體的多重輸入多重輸出(MIMO)功能，因此可快速量測從2x2至4x4的各種元件，並預留未來擴充為4通道以上的系統空間。5 \0 G& H3 b" n. P
4、Agilent U1901A GS-8800 (PXT) LTE設計驗證與符合性測試系統，涵蓋36.521 LTE測試標準的Section 6到Section 9的測試案例，提供完整的LTE裝置自動化測試。該系統是專為那些必須對LTE裝置執行更深入的驗證，或符合性測試的工程師而設計。
2 z1 L: o( w3 q3 K7 O5、Agilent EXT E6607A無線通訊測試機組與無線晶片組內建的測試模式，可以完美地搭配在一起運作。此舉可減少製造測試過程中的信令處理工作，同時還能提高處理速度，並維持測試的完整性及成品的品質。" J9 N! s3 S. |8 [, p: O0 g2 [
6、MIMO手機接受度測試的MIMO手機天線設計和MIMO手機驗證，採用以Agilent PXB N5106A基頻產生器和通道模擬器為基礎的空中介面測試方法。; m3 D, i, y& ?2 H8 Q* H' |3 P

8 J, N; x! D- S  J% S# {主題二：數位量測
5 v% A  n3 O4 s安捷倫獨特的解決方案，為智慧型手機、筆記型電腦及各種新興應用裝置的研發，提供了最佳的數位量測儀器。包括有高效能探量、信號完整性測試、高速互連分析／模擬、抖動分析、FPGA除錯，以及FBD／DDR記憶體、串列ATA、PCI Express、USB 3.0、HDMI 1.4、DisplayPort所需的測試工具。. p0 P  [+ ]" u
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1、Agilent 90000 X系列示波器是全球最快速的即時示波器，這些儀器提供業界最高的即時示波器量測準確度、業界僅見的30 GHz示波器探量系統，以及業界第一套針對特定應用而發展的量測軟體。; S) W2 P) ?( f) ~8 B8 O. ?
2、安捷倫PCIe 3.0接收器特性描述測試解決方案，提供完整而準確的接收器容忍度測試結果，同時可將研發工作減到最少。/ w( s& k. @9 f* T+ W
3、安捷倫DDR3協定違反偵測器，其可連續監測DDR3匯流排的流量，是在設計記憶體系統初期發現協定違反問題不可或缺的工具。! R  w  j+ X/ K6 u) w' d; B

5 O! Z4 a+ @) T) X/ ]' L  B/ m1 ^有關2011台灣安捷倫電子量測論壇講題與展示的詳細資訊，請瀏覽：http://210.244.49.188/event/agilent2011/



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