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標題: 5/19 III-NCTU EBL成立大會暨嵌入式測試技術研討座談會 [打印本頁]

作者: atitizz 時間: 2011-5-5 08:33 AM
標題: 5/19 III-NCTU EBL成立大會暨嵌入式測試技術研討座談會
一、指導單位：經濟部工業局、經濟部通訊產業發展推動小組
二、主辦單位：財團法人資訊工業策進會、國立交通大學
三、活動時間：2011年5月19日(星期四)，10:00至16:00
四、活動地點：國立交通大學浩然圖書館B1國際會議廳A廳
五、報名方式︰請於5月13日前將附件報名表e-mail至signup@nbl.org.tw紀小姐 03-5736727 #217 (座次有限，敬請及早報名!)

作者: atitizz 時間: 2011-5-5 08:33 AM
六、活動說明：

根據市場研究機構IDC在2010年第四季的全球智慧型手機市場報告指出：2010年Q4智慧型手機出貨量比2009年同期成長87.2%，達到1.009億支，首度超越全球個人電腦出貨量。資策會MIC也預估至2013年，整體Android產品將達到1億2600萬台的規模。

面對全球嵌入式產業快速地蓬勃發展，臺灣業者能否在產品品質持續提升，將會是我國嵌入式產業能否成為國際上重要產業聚落的一大關鍵。尤其在嵌入式系統效能及耗能的表現對於具連網能力之消費型電子產品(例如手機、平版電腦等)來說相當重要。過去兩年交大網路測試中心(NBL)的嵌入式系統研究團隊，開始著手嵌入式系統平台的評比技術研究，致力於效能及耗電測試評比方法設計、自動化測試工具研發以及定義評比測試項目，並於2010年7月公開評比結果(請參考：www.ebl.org.tw/report/docs/EBL_PublicTestResult.pdf )。

有鑑於Android開放式作業系統裝置的成長驚人，國立交通大學與財團法人資訊工業策進會共同合作，將於2011年5月19日成立「資策會交大嵌入式測試中心」(III-NCTU Embedded Benchmarking Lab, III-NCTU EBL)。其目標是希望能夠成為公正第三方、一個專業客觀的嵌入式系統測試中心，並和國內外嵌入式廠商合作，一同為提升台灣嵌入式產業的技術層次與產品品質而努力。期望透過嵌入式系統測試中心的協助，提供國內外廠商進行可客制化且專業的測試諮詢服務。

誠摯邀請您參與並蒞臨指導！！

作者: atitizz 時間: 2011-5-5 08:34 AM
本帖最後由 atitizz 於 2011-5-5 08:37 AM 編輯

時間 / y" u$ C9 C$ u6 a0 o# L1 q		講題 6 V: Q; Z4 \4 m" [/ O8 Q3 S& ~	主講人 . b# e' U- b* E& [
10:00-10:30 / z6 \* k- Z: j+ L9 o5 J6 l		報到 / ^$ _* @( k: n) M9 g
10:30-10:50 9 S4 s. [8 e9 s5 L/ B6 G! p% u		主辦單位及貴賓致詞 . S/ g J( K, A		交通大學林一平副校長 & b; @$ W% a; n8 g: d; c0 d% i 經濟部工業局代表 9 @; ]8 g0 O' L' ? 資訊工業策進會何寶中副執行長 7 y( ~' T: T0 x+ [2 V: A- Y 交通大學電資中心林寶樹主任
10:50-11:00 9 S( h, \9 X8 Z/ T3 n		資策會交大嵌入式測試中心(III-NCTU EBL)成立揭牌儀式 ) g; K% P' j4 l2 B$ O0 z- l# I; k$ T8 U 交通大學林一平副校長、經濟部工業局代表、 4 C8 G7 k3 ]9 s' J [ b 資訊工業策進會何寶中副執行長、交通大學電資中心林寶樹主任、 1 W; u3 z* m! L2 h5 a. }) E" r資策會網路多媒體研究所馮明惠所長、廠商代表 5 ^' K& a( {6 \|( p* g; J% r- U III-NCTU EBL主要成員介紹與合影 4 n9 W% b4 O* z- H 資策會網多所何文楨副所長、交通大學林盈達教授、交通大學陳添福教授、 + g. w& A" T6 D ]- z 交通大學張立平教授、台灣科技大學賴源正教授、雲林科技大學朱宗賢教授、 $ v; S: J2 p- ^* i2 p! f 逢甲大學張貴忠教授 # S0 b1 j9 _, x2 Q1 J" `! U3 x
11:00-11:15 & E) P D% \& `6 Y1 a. Y- u' \|/ }0 _6 N		茶會(自由交流) - X- }8 E. `+ C+ O; t' G9 h
11:15-11:30 0 u7 ?+ A+ M3 d		資策會交大嵌入式測試中心營運說明 . n$ f' ^3 a# S) `2 d& d6 i% q3 y		III-NCTU EBL 林盈達博士 , C# K1 p- \|) N6 P, T
11:30-12:30 8 m& w' @9 J" v5 A0 s# M; ^1 F" z		座談會: * W7 ]+ s' Q$ q' r: r. q 從NBL到EBL - 尋找產業需求 . Q, ]6 D+ y" J% b 1.在嵌入式產業中，廠商期許第三方測試評比單位扮演什麼樣的角色來協助產業發展? " o! ^# [2 i* U, C% x2.嵌入式產品開發的過程中，較容易遇到哪些問題導致產品延後上市?出貨前在廠商內部會經過哪些審驗條件產品才能上市? ! N3 C7 x% G: y% K- `; V3.廠商是否期望第三方測試中心針對嵌入式產品建立標準化評比指標來進行產品效能、耗能及穩定度的量測? . M$ Z/ R4 x" t. A9 L5 n 4.對於EBL提供的測試評比服務及測試方案的期待與建議？		主談人： " n8 \3 Q# B! `( F! e6 J III-NCTU EBL主任何文楨博士 4 W8 H2 u, J* o與談人： 1 y% j" Y" v( ~NCTU NBL 陳一瑋執行主任 % N' B% }! G/ pIII-NCTU EBL 林盈達博士 8 `* O. z- n3 z7 }% a4 m- d6 j# \3 ^- V! [: \| 安謀國際陳洛經理 ( i/ P/ Q; i$ y' [7 p 晶心科技林志明總經理 1 _1 v0 \|' [6 \|; z7 ?4 S
12:30-13:30	午餐 ' i) \6 g/ I, S! H
13:30-14:10 * s! Z& X( S% X3 L4 W	嵌入式系統核心評比技術簡介 : h- s" ?* r' A 1.自動化測試方案 2 P: y7 @0 y: G: t8 `# X; w2.系統效能剖析方案 ' D( i) v7 z% h3.系統耗電剖析方案 2 l9 n1 h: F6 S2 ?6 S# l, w 4.固態硬碟(SSD)評比方案			III-NCTU EBL 甘東杰經理 4 j: _, }' x% \|' ]6 W7 s/ ]
14:10-14:40 + k2 Q; j) N/ c	III Android Device Testing Solution 3 J7 a9 N* b# f3 J1.Multi-device Testing Solution 5 c9 _0 `: F) s3 x( N 2.Visual User Interface Testing Solution $ ~) g. [# [+ G. }7 T. `1 K 3.Customized Testing Solution			III-NCTU EBL 林敬文經理 8 F' ~3 R$ @8 @2 v
14:40-14:50	休息時間 (Tea & Coffee) : [! J; l7 U+ S) x' ]
14:50-16:00 & w. v. E m, r4 n: B4 V/ F	座談會： 1 M- U, v" k+ @ V* x% g Android產品問題：速度、耗電、相容性、與穩定性 W% G7 F& `# M4 r$ Y1.針對嵌入式產品要建立哪些評比指標才能有效量測產品效能、耗能及穩定度的表現? 3 N4 n6 W8 C, ~, x! W 2.不同類型的Android產品相繼問世，未來應用程式、作業系統版本及裝置間的相容性是否會造成廠商及應用程式開發商的維護成本大幅提升? ! h1 w7 o; o- [: P, Q0 z6 ?2 _2 l3.對於EBL所提供的測試服務及測試方案的期待與建議？			主談人： + l6 \" @9 q: m- z3 K8 ^: N III-NCTU EBL, M' B( j) w7 n. ?' ~ 林盈達博士 / ]$ k, X! g8 n6 @7 A a- V4 u與談人： " q3 w0 w6 V S. D9 E" T" _) ~6 G 工研院莊國煜經理 ; h2 {' {: ^2 U. M$ L- I% H7 k 安謀國際莊智鑫經理 4 h$ V+ f" L* \+ \|& T1 J% n+ b 正崴科技劉明德經理 ( J) z% r1 s* W! c( c4 m% {III-NCTU EBL林敬文經理 / L: o: K$ B x. iIII-NCTU EBL甘東杰經理 + j r0 s) y6 H' c 1 u! t" d n; s. i9 b t8 d# q; W

※主辦單位保有更動講師及議題的權利，將不另行通知

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