Chip123 科技應用創新平台

標題: 6/19~20 LTE市場趨勢與測試應用研討會 [打印本頁]
作者: tk02561    時間: 2012-5-28 12:25 PM
標題: 6/19~20 LTE市場趨勢與測試應用研討會
活動時間/地點：
( d* M+ I5 R4 I6 {2 Q
( D& z: k( ~5 j% C台北場次: 2012 年6月19日(週二)　 集思台大會議中心/柏拉圖廳: @9 x, i: Y- i
新竹場次: 2012 年6月20日(週三)   科技生活館/愛因斯坦廳( p% o& ^( b) X3 Z
主辦單位：安立知股份有限公司(ANRITSU)$ G  K1 E, n; Q) C
參加費用：免費
5 ?. a; W- p+ m% ]8 I( w本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。
, @- k; }5 i) m3 j1 |: r& `& P% @% [! F. w& [! p* U  w
長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統。在LTE手機接續問世，後端應用軟體更顯得重要。為了讓廣大的客戶群能夠更加暸解LTE市場趨勢、LTE的應用及如何測試。特地舉辦LTE最新市場趨勢，以及測試應用研討會。, f1 w/ E4 W% y1 h/ P  ^& c

2 u& P% Q; w! V* s3 d! X' K2 MLTE量測設備領導品牌 - 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，藉由此次機會介紹ME7834L/MD8475A，包含最新GCF/PTCRB測試能力、電信業者最新的發展現況、IMS應用，以及VoLTE/SVLTE/CSFB/TD-LTE等各種測試功能。安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
7 [# Q& B: Q  D/ O3 u% t) N. ?3 ~( h9 D
報名方式：3 D* B: e4 \) }0 X# O

線上報名: 電電公會網站 [台北場點此，新竹場點此] 或安立知活動網頁[點此]報名

作者: tk02561    時間: 2012-5-28 12:27 PM


6 n7 O0 \: |8 F- v" d0 x時　間
1 y( P/ r# l) r. [4 B

主　題

講　師

08:30~09:00

報到


2 s/ O1 i+ ]/ M: m+ t- j

09:00~10:00

LTE最新市場趨勢

Product Marketing, Anritsu Japan: Saito Toru

10:00~10:20

Coffee Break


+ \% y- L" O8 }5 f- h" b

10:20~11:20

LTE手機應用層實際環境測試 (MD8475A)

Product Marketing, Anritsu Japan: Saito Toru

11:20~12:00

MD8475A實機展示 (VoLTE)

12:00~13:00

Lunch


4 z3 Y1 q7 G% l( L

13:00~14:30

電信業者最新發展現況 (ME7834L)

Channel Development Manager, Anritsu UK: Tzachi Zack

&

Product Marketing, Anritsu Japan: Parthiban Palanivel

14:30~14:50

Coffee Break

' q2 p* a& J6 d/ q; J2 E8 y8 L# W

14:50~16:20

IMS原理以及應用功能

Live demo (MD8430A + Radvision IMS)

Product Manager, Radvision :

Eli Cohen

16:20~16:30

Q&A及抽獎活動

/ Z! _) L+ B8 i$ N6 r
" V7 B2 C& t" J. l6 M
# M/ l8 U. @* w6 R1 d
2 H/ @8 }8 I1 x, r( r0 y: {# q

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。

*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。





歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com/) Powered by Discuz! X3.2